マイページ
言語切替

ホーム > 製品情報:分光計測機器 > FPD関連評価機器 > 膜厚検査システム > 膜厚測定システム FE-3700/5700

膜厚測定システム FE-3700/5700

進化しつづけるFPDの製造工程で各種薄膜を評価・分析

 


※資料ダウンロードには会員登録が必要です
 【 関連技術資料ダウンロード
 

製品情報

特 長

さまざまなガラス基板上の各種薄膜の膜厚や光学定数を、高速かつ高精度に測定できます。次世代サイズを含む大型ガラス基板に対応するほか、LCD、TFT、や有機ELにも対応します。

 

用 途
  • LCD
    ITO/Glass、PI/OC/Glass、CF/Glass、Resist/Glass
  • TFT
    SiN/a-Si/Glass
  • 有機EL
    有機EL/ITO/Glass
  • PDP
    誘電体層/Glass

 

関連情報

関連製品

反射分光膜厚計 FE-3000

分光エリプソメータ FE-5000/5000S

カラーフィルタ分光特性測定装置 LCF series

セルギャップ検査装置 RETS series

LCD評価装置(パネル・モジュール検査) LCD series

ギガコントラストテスター GC-1

高感度分光放射輝度計 HS-1000

動画特性測定装置 MPRT-2000

動画解像度評価装置 MR-2000

マルチチャンネル分光器 MCPD-9800/6800

分光配光測定システム GP series