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膜厚測定システム　FE-3700/5700

進化しつづけるFPDの製造工程で各種薄膜を評価･分析

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製品情報

特　長

さまざまなガラス基板上の各種薄膜の膜厚や光学定数を、高速かつ高精度に測定できます。次世代サイズを含む大型ガラス基板に対応するほか、LCD、TFT、や有機ELにも対応します。

用　途

	反射分光膜厚計　FE-3000
	分光エリプソメータ　FE-5000/5000S
	カラーフィルタ分光特性測定装置　LCF series
	セルギャップ検査装置　RETS series
	LCD評価装置（パネル・モジュール検査）　LCD series
	高感度分光放射輝度計　HS-1000
	動画特性測定装置　MPRT-2000
	動画解像度評価装置　MR-2000
	マルチチャンネル分光器　MCPD-9800/6800
	分光配光測定システム　GP series