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紫外高速ニアフィールド配光測定システム

紫外光源や光学材料の配光を評価する装置です。
・配光測定の常識を覆す測定時間10分を実現!
・1回の測定であらゆる空間照度を捉える!
・ニアフィールド配光測定で光線データ取得!
一台で紫外光源の配光測定からレンズやフィルムなどの
材料の光学特性まで幅広く評価ができる装置です。

 

製品情報

特長
  • 高速測定により、従来法と比較して大幅短縮化を実現(約10分)
  • 一度の測定で、多彩な条件での測定結果を算出
  • 暗箱内設置により暗室設備不要
  • 任意の位置・距離での照度・光度の算出が可能(最短1mm~)

 

評価項目
  • 輝度光線データ
  • 照度、光度、配光データ

 

用途
  • 樹脂硬化用光源
  • UV-LEDチップ、パッケージ、モジュール
  • レンズ、リフレクタなどの光学材料

 

仕様

仕様

紫外高速ニアフィールド配光測定システムの仕様

 

装置構成

高速ニアフィールド配光測定システムをご参照ください

測定例

UV-LEDライト 測定結果 (λp=365nm)

紫外高速ニアフィールド配光測定システムの測定例

ブラックライト用のUV-LEDライトの測定例です。
ニアフィールド配光の測定結果を解析することでデジタル値はもちろん、
3Dでの配光パターンを描画し、配光特性を3次元的に確認することができます。

 

樹脂硬化用UV光源 測定結果

紫外高速ニアフィールド配光測定システムの測定例

電子デバイスの樹脂硬化用に使うUV光源の測定例です。
測定結果から、斜に光源を配置して照射したときの放射照度分布を
後解析で取得できます。

 

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