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第31回日本DDS学会学術集会

無事終了いたしました。 多数のご参加を頂き、誠にありがとうございました。

京王プラザホテル(東京都新宿区)にて7月2日~3日の2日間、第31回日本DDS学会学術集会が開かれます。
大塚電子はゼータ電位・粒子径・分子量測定システム(ELSZ-2000series)を展示いたします。
また、7月3日の12:00から第4会場にて「光散乱法による両親媒性分子および生体高分子の物性評価 -粒子径・ゼータ電位測定から分子量測定まで-」という内容でランチョンセミナーもおこないます。
展示と合わせてご参加をお待ちしております。

●名  称

第31回日本DDS学会学術集会

●会  期

2015年7月2日(木)~3日(金)

●会  場

京王プラザホテル(東京都新宿区)

●入場料

詳細は事務局にお問い合わせください

●主  催

日本DDS学会

■ 出展製品

<希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能>

● ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000 series

ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000 series

従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位・粒子径測定が可能な装置です。粒子径測定範囲も(0.6nm~10μm)、濃度範囲(0.00001%~40%)に対応。電気浸透流を実測し、高精度なゼータ電位測定を可能とした業界最小容量130μL~のディスポーザブルセルで測定が可能です。

ゼータ電位 -200 ~ 200mV
粒子径・粒度分布 0.6nm ~ 10000nm
分子量 360 ~ 20,000,000
対応濃度範囲 粒子径:0.00001 % (0.1ppm) ~ 40 % *
ゼータ電位:0.001%~40%td>

 *(Latex112nm: 0.00001 ~ 10%、タウロコール酸: ~ 40%)

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