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膜厚測定技術セミナー in 大阪

無事終了いたしました。多数のご参加を頂き、誠にありがとうございました。

本セミナーでは、コーティング膜、多層膜、フィルム、半導体などの膜厚を非接触・非破壊・高速で測定可能な光学干渉式膜厚計の原理とアプリケーションをご紹介いたします。

大塚電子では、ナノ～ミリ単位の、幅広い膜厚に対応した機種をラインナップしております。
また、完全リニューアルされた新製品の『顕微分光膜厚計　OPTM series』を用いて装置のデモンストーションを行います。
お気軽にご参加ください。

膜厚測定技術セミナープログラム

【受付開始】13：00

光学干渉式膜厚計の基礎とアプリケーションのご紹介

コーティング膜、多層膜、フィルム、半導体などの膜厚を非接触・非破壊・高速で測定可能な光学干渉式膜厚計の原理とアプリケーションをご紹介いたします。大塚電子では、ナノ～ミリ単位の、幅広い膜厚に対応した機種をラインナップしております。

コーティング膜、多層膜、フィルム、半導体などの膜厚を非接触・非破壊・高速で測定可能な光学干渉式膜厚計の原理とアプリケーションをご紹介いたします。
大塚電子では、ナノ～ミリ単位の、幅広い膜厚に対応した機種をラインナップしております。

顕微分光膜厚計 OPTM series	完全リニューアルされた新製品『顕微分光膜厚計　OPTM series』を用いて装置のデモンストーションを行います。