ホーム > 展示会・セミナー > nano tech 2017 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議

nano tech 2017 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議

2月15日(水)から17日(金)まで、東京ビッグサイトで「国際ナノテクノロジー総合展・技術会議 nano tech 2017」が開催されます。本展示会では、下記装置を展示・紹介いたします。

【展示装置】
 ●希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能
   『ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZ-2000 series』

 ●ナノ粒子の分散状態評価、濃厚溶液での粒子径計測が可能
  『濃厚系粒径アナライザー+オートサンプラー FPAR-1000AS

 ●粒子径・分子量測定
   『ダイナミック光散乱光度計 DLS-8000 series

 ●陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析可能
  『キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100

 ●超高感度・高精度・低迷光MCPD分光器を用いた量子効率測定
  『量子効率測定システムQE-2000 series

 ●非接触、非破壊、顕微で測定時間1秒
  『顕微分光膜厚計 OPTM series

 ●紫外~近赤外の広い波長域と多様な用途に対応可能な分光器
  『マルチチャンネル分光器 MCPD series

【セミナー】
 ◎2月17日(金)13:15~14:00
  『光散乱法によるナノ粒子の分散評価および分散剤の物性評価
   ~粒子径・ゼータ電位測定から分子量測定まで~』

各種資料を取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。
  ■弊社ブース:東4ホール【4B-12】
  ■セミナー会場:東4ホール シーズ&ニーズセミナーA会場
    ※入場料は、事前登録で入場料3,000円が無料になります。
     詳しくは、「nano tech 2017」公式ホームページをご覧ください。

●名  称

nano tech 2017 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議

●会  期

2017年2月15日(水)~17日(金) 10:00~17:00

●会  場

東京国際展示場(東京ビッグサイト) 東4・5・6ホール

●入場料

3,000円
 (事前登録された方には、無料招待券が送付されます) 
  事前登録を希望される方は nano tech 2017 ホーム
  ページ内のこちらのページからお申し込みください。

●主  催

nano tech 実行委員会

出展ブース「東4ホール 4B-12」 

出展ブース「東4ホール 4B-12」 

■ 出展製品

<ゼータ電位・粒子径・分子量>

● ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000 series+ELSZ-PT

● ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000 series+ELSZ-PT

●希薄系から濃厚系でのゼータ電位・粒子径測定
●ナノ粒子の分散・凝集を測定

<粒子径・分子量測定>

● ダイナミック光散乱光度計 DLS-8000

● ダイナミック光散乱光度計 DLS-8000

動的光散乱法を用いた粒子径・粒子径分布(粒径・粒径分布)測定と静的光散乱法を用いた絶対分子量・慣性半径・第二ビリアル係数の測定が可能です。

<粒子径計測>

● 濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000 + オートサンプラー

● 濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000 + オートサンプラー

●希薄系から濃厚系まで幅広い濃度領域での粒子径測定
●コロイド分散液やスラリーの分散状態の解析
●50本までの試料を自動連続測定

<キャピラリ電気泳動>

● キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100

● キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100

●陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の 装置で分析可能
●微量サンプルで短時間・高分解能な分析が可能

<量子効率測定システム>

● 量子効率測定システム QE-2000

● 量子効率測定システム QE-2000

●瞬時に絶対量子効率の測定が可能です。
●低迷光マルチチャンネル分光検出器の採用により、紫外域での迷光を大きく低減しました。

<顕微分光膜厚計>

● 顕微分光膜厚計 OPTM series

● 顕微分光膜厚計 OPTM series

極薄膜などの各種フィルムやウェーハ、光学材料などのコーティング膜の厚み測定
●顕微分光で高精度な絶対反射率測定
 (多層膜厚、光学定数)
●1ポイント1秒以内の高速測定
●顕微下で広い測定波長範囲を実現する光学系
 (紫外~近赤外)

セミナー情報

ブース内セミナー

弊社ブース内(東4ホール 4B-12)にて毎日開催いたします。
----------------------------------------------------------------------------------
 [ナノ粒子評価] ~粒子径~          10:10 / 12:10 / 14:40
----------------------------------------------------------------------------------
 [ナノ粒子評価] ~ゼータ電位~         10:40 / 13:10 / 15:10
----------------------------------------------------------------------------------
 [材料評価]   ~キャピラリー電気泳動~    11:10 / 13:40 / 15:40
----------------------------------------------------------------------------------
 [材料評価]   ~分光膜厚~        11:40 / 14:10 / 16:10
----------------------------------------------------------------------------------

シーズ&ニーズセミナー

併催のシーズ&ニーズセミナーAでは以下の内容でセミナーをおこないます。 ぜひご聴講ください。

●テ ー マ 光散乱法によるナノ粒子の分散評価および分散剤の物性評価
 ー粒子径・ゼータ電位測定から分子量測定までー
●対象製品 ゼータ電位・粒径・分子量測定システム(ELSZ-2000 series)
●日  時 2017年2月17日(金) 13:15~14:00
●会  場 シーズ&ニーズセミナー A会場 (東4ホール)

ページトップへ

X LinkdIn Youtube

大塚電子公式 SNS