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大塚電子 ニュース
Pittcon 2014 Conference & EXPO

無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました

米国で毎年開催される分析機器・理化学機器に関する世界最大のコンファレンス「Pittcon 2014 Conference & EXPO」に出展します。ぜひ弊社ブース(4317)へお立ち寄りください。
 
Pittcon 2014 Conference & EXPO
名  称 Pittcon 2014 Conference & EXPO
会  期 2014年3月2日(日)~6日(木) 10:00~17:00 (最終日は16:00まで)
展示期間:3月3日(月)~6日(木)
会  場 マコーミック・プレイス (米国・シカゴ)
出展ブース「4317」
出展ブース「4317」
出展製品
<超高感度・高精度・低迷光MCPD分光器を用いた量子効率測定>
● 量子効率測定システム QE-2000
【量子効率評価】量子効率測定システム QE-2000
● 瞬時に絶対量子効率(絶対量子収率)の測定が可能です。
● 再励起蛍光発光の除去が可能です。
● 低迷光マルチチャンネル分光検出器の採用により、紫外域での迷光を大きく
  低減しています。

測定波長範囲 250nm ~ 1100nm
励起波長範囲 250nm ~ 800nm
測定項目 蛍光スペクトル測定、量子効率測定

<高速・省スペース化を実現!>
● 高速配光測定システム GP-7
高速配光測定システム GP-7
● 多点表面輝度配光測定法による高精度化と省スペース化を実現した
  配光測定システムです。
● 2次元輝度センサーによる多点表面輝度配光測定が可能です。
● ゴニオメータによる高速自動測定が可能です。

測定波長範囲 380 ~ 780  nm (Y視感度フィルタ装着)
測定項目 配光測定

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