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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
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2014年1月15日（水）より、「第6回 次世代照明 技術展 -ライティング・ジャパン 2014-」が開催されます。
本展示会では、照明・光源評価を中心に新製品・新技術をご紹介します。
光度の角度分布を測定し、配光特性を評価する配光測定システム GP series。今回は展示会では初公開となるGP-7とGP seriesを展示します。ぜひ弊社ブース（東46-10）で実機をご覧ください。
また、技術セミナーでもGP seriesの特長とその魅力をあますところなくご紹介します。ぜひこちらにもご参加ください。
ご来場お待ちしております。
本展示会では、照明・光源評価を中心に新製品・新技術をご紹介します。
光度の角度分布を測定し、配光特性を評価する配光測定システム GP series。今回は展示会では初公開となるGP-7とGP seriesを展示します。ぜひ弊社ブース（東46-10）で実機をご覧ください。
また、技術セミナーでもGP seriesの特長とその魅力をあますところなくご紹介します。ぜひこちらにもご参加ください。
ご来場お待ちしております。
| ●名 称 | 第6回 次世代照明 技術展 -ライティング･ジャパン 2014- |
| ●会 期 | 2014年1月15日（水）～17日（金） |
| ●会 場 | 東京国際展示場（東京ビッグサイト） |
| ●主 催 | リードエグジビション ジャパン株式会社 |
| ●同時開催 | 第4回 LED/有機EL照明展 第2回 東京デザイン照明展 |
| 【 配光評価 】 高速・省スペース化を実現！ |
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● 高速配光測定システム GP-7 ● 二次元輝度センサーによる多点表面輝度配光測定法による高精度化と
省スペース化を実現した配光測定システムです。 ● ゴニオメータによる高速自動測定が可能です。
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| 【 配光評価 】 光度の角度分布を測定し、配光特性を評価！ |
● 配光測定システム GP series ● IESNAのLM-75およびCIE121に対応しています。
● 最大2400mmのLED照明器具の配光測定に対応可能です。 ● 2軸ゴニオメーターを自動制御して、角度ごとの分光分布測定を行い、球帯 係数法により、全光束を求めることもできます。 |
| 【 光源評価 】 バックライトの評価も簡単により高精度に！ |
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● 全光束測定システム（HaflMoon） HM series ● 発光部以外を積分空間外に排除することで、吸収誤差を解消します。
● パルス幅変調（PWM）調光に対応しています。 ● L-I-V測定、パルス点灯測定、サンプル温調測定に対応可能です。（オプション）
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| 【 量子効率 】 超高感度・高精度・低迷光MCPD分光器を用いた量子効率測定 |
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● 量子効率測定システム QE-2000 ● 瞬時に絶対量子効率（絶対量子収率）の測定が可能です。
● 再励起蛍光発光の除去が可能です。 ● 低迷光マルチチャンネル分光検出器の採用により、紫外域での迷光を大きく 低減しています。
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併催の新技術説明会では以下の内容でセミナーをおこないます。
ぜひご聴講ください。
| ●テ ー マ | 大塚電子（株）光計測評価センターの取り組みについて |
| ●発表要旨 | 国家計量標準「JCSS」校正事業者の認定と「JNLA」試験事業の登録を受けた光計測評価センターの取り組みについてご紹介 |
| ●サービス | JCSS校正サービス JNLA試験サービス |
| ●日 時 | 2014年1月15日（水）11：20～11：50 |
| ●会 場 | ライティングジャパン展示会場内 東D会場 |
| ●テ ー マ | さまざまな光源照明分野における配光測定装置のご紹介 |
| ●発表要旨 | 2.4m直管型ランプまで測定可能な大型配光装置(GP series)と、高速測定＆省スペース化を可能にした次世代配光装置(GP-7)のご紹介 |
| ●対象製品 | GP series GP-7 |
| ●日 時 | 2014年1月16日（木）12：20～13：20 |
| ●会 場 | ライティングジャパン展示会場内 東D会場 |
