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大塚電子 ニュース
国際粉体工業展東京2014 (POWTEX TOKYO 2014)
無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました

11月26日(水)から28日(金)まで東京ビックサイトで行なわれる「国際粉体工業展東京2014」に出展します。
大塚電子のブースでは、粉体粒子の分散評価に最適なゼータ電位・粒径測定システムをはじめ各種さまざまな実機を展示します。
各種技術資料も取り揃えて皆様のご来場をお待ちしております。ぜひ弊社ブースにお立ち寄りください。
名  称 国際粉体工業展東京2014 (POWTEX TOKYO 2014)
会  期 2014年11月26日(水)~28日(金)  10:00~18:00
               28日(金)は10:00~17:00
会  場 東京ビックサイト東ホール
入場料 1,000円(ただし、招待券持参者・事前登録者・学生は無料)
(事前登録はこちら)
主  催 社団法人 日本粉体工業技術協会
出展ブース図「東2ホール L-01」
出展ブース図「東2ホール L-01」
国際粉体工業展東京2014 (POWTEX TOKYO 2014)
出展製品
希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能
● ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ-1000 series
ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ-1000 series
従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位・粒子径測定が可能な装置です。粒子径測定範囲も(0.6nm~10μm)、濃度範囲(0.00001%~40%)に対応。電気浸透流を実測し、高精度なゼータ電位測定を可能とした業界最小容量130μL~のディスポーザブルセルで測定が可能です。

ゼータ電位 -200 ~ 200mV
粒子径・粒度分布 0.6nm ~ 10μm
対応濃度範囲 粒子径:0.00001 % (0.1ppm) ~ 40 %*1
ゼータ電位:0.001%~40%
*1(Latex112nm: 0.00001 ~ 10%、タウロコール酸: ~ 40%)
● ELSZ用pHタイトレーターシステム ELSZ-PT
【ゼータ電位・粒子径測定】希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒径を一台で測定可能 -ELSZ用pHタイトレーターシステム
ELSZシリーズとの組み合せにより、pHに対するゼータ電位変化を連続測定することが可能です。

pH範囲 pH1 ~ 13
ナノ粒子の分散状態評価、濃厚溶液での粒子径計測が可能
● 濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000
濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000
希薄系から濃厚系まで、幅広い濃度領域での粒子径測定コロイド分散液やスラリーの分散状態の解析に最適です。

粒子径・粒度分布 1nm ~ 5μm(高感度仕様)
対応濃度範囲 0.001% ~ 10%

  ・FPAR用オートサンプラー
オートサンプラー付濃厚系粒径アナライザー
FPARとオートサンプラーの組み合せで、50検体までの試料について粒子径の自動測定が可能です。
サンプル量が1mLで、安価なディスポセルを用いての測定が可能です。

<粒子径・分子量測定>
●ダイナミック光散乱光度計 DLS-8000
ダイナミック光散乱光度計 DLS-8000

動的光散乱法を用いた粒子径・粒子径分布(粒径・粒径分布)測定と静的光散乱法を用いた絶対分子量・慣性半径・第二ビリアル係数の測定が可能です。

粒子径・粒度分布 1.4nm ~ 7000nm
重量平均分子量 3×102 ~ 2×107 Mw
第二ビリアル係数 -1 ~ 20×10-4 mol・cm3・g-2

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