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大塚電子 ニュース
JASIS 2014
無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました

9月3日(水)から5日(金)まで、幕張メッセで「JASIS 2014」がおこなわれます。

この展示会に大塚電子は、ゼータ電位・粒径測定システム、濃厚系粒径アナライザー、ダイナミック光散乱光度計、フロー式画像解析粒子径・形状測定装置、キャピラリ電気泳動システム、膜厚モニター、テラヘルツ膜厚専用機を展示いたします(8ホールブースNo.8A-501)。
各種技術資料も取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。

また、新技術説明会では「ゼータ電位・粒径測定システム ELSZシリーズによるバイオ分野への新展開」というタイトルで9月5日(金) 14:25~15:15までホテルニューオータニ幕張 N-4室で講演をおこないます。
こちらのセミナーにもご参加ください。お待ちしております。

名  称 JASIS 2014
会  期 2014年9月3日(水)~5日(金) 10:00~17:00
会  場 幕張メッセ国際展示場
入場料 無料
 こちらのページから事前登録を行ってください。
主  催 一般社団法人 日本分析機器工業会
一般社団法人 日本科学機器協会
出展ブース「8ホール 8A-501」
出展ブース「8ホール 8A-501」
事前登録はこちらからもできます。
事前登録はこちらからも行えます。
出展製品
希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能
● ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ-1000 series
ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ-1000 series
従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位・粒子径測定が可能な装置です。粒子径測定範囲も(0.6nm~10μm)、濃度範囲(0.00001%~40%)に対応。電気浸透流を実測し、高精度なゼータ電位測定を可能とした業界最小容量130μL~のディスポーザブルセルで測定が可能です。

ゼータ電位 -200 ~ 200mV
粒子径・粒度分布 0.6nm ~ 10μm
対応濃度範囲 粒子径:0.00001 % (0.1ppm) ~ 40 %*1
ゼータ電位:0.001%~40%
*1(Latex112nm: 0.00001 ~ 10%、タウロコール酸: ~ 40%)
● ELSZ用pHタイトレーターシステム ELSZ-PT
【ゼータ電位・粒子径測定】希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒径を一台で測定可能 -ELSZ用pHタイトレーターシステム
ELSZシリーズとの組み合せにより、pHに対するゼータ電位変化を連続測定することが可能です。

pH範囲 pH1 ~ 13
ナノ粒子の分散状態評価、濃厚溶液での粒子径計測が可能
● 濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000
濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000
希薄系から濃厚系まで、幅広い濃度領域での粒子径測定コロイド分散液やスラリーの分散状態の解析に最適です。

粒子径・粒度分布 1nm ~ 5μm(高感度仕様)
対応濃度範囲 0.001% ~ 10%

  ・FPAR用オートサンプラー
オートサンプラー付濃厚系粒径アナライザー
FPARとオートサンプラーの組み合せで、50検体までの試料について粒子径の自動測定が可能です。
サンプル量が1mLで、安価なディスポセルを用いての測定が可能です。

<粒子径・分子量測定>
●ダイナミック光散乱光度計 DLS-8000
ダイナミック光散乱光度計 DLS-8000

動的光散乱法を用いた粒子径・粒子径分布(粒径・粒径分布)測定と静的光散乱法を用いた絶対分子量・慣性半径・第二ビリアル係数の測定が可能です。

粒子径・粒度分布 1.4nm ~ 7000nm
重量平均分子量 3×102 ~ 2×107 Mw
第二ビリアル係数 -1 ~ 20×10-4 mol・cm3・g-2
粒子径や形状のフロー式画像解析が可能
● フロー式画像解析粒子径・形状測定装置 Particle Insight
フロー式画像解析粒子径・形状測定装置 Particle Insight
Particle Insight は最新のフロー式画像解析装置です。
粒子径だけでなく、形状も重要になる場合の用途に最適です。
 
測定範囲 1 ~ 150μm、3 ~ 300μm、10 ~ 800μm
陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析可能
●キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100
キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100

陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析が可能です。
微量サンプルで短時間・高分解能な分析が可能です。

測定波長範囲 190nm ~ 600nm
泳動電力 * 電圧 : 0 ~ ±30kV 、 電流 : 0 ~ 300μA
サンプル温調制御 室温以下 10~60℃
*極性逆転可能
小型・低価格!簡単操作で、"非接触"膜厚測定!
● 膜厚モニター FE-300
【膜厚評価】 小型・低価格!簡単操作で、"非接触"膜厚測定! 膜厚モニター FE-300
薄膜から厚膜の幅広い膜厚測定に対応可能な光干渉式膜厚計です。
コンパクト・低価格でありながら高精度測定を実現します。

測定膜厚範囲 *1 10nm ~ 40μm *2
測定波長範囲 300nm ~ 800nm *2
測定項目 絶対反射率測定、多層膜厚解析(5層)、
光学定数解析
  *1 光学的膜厚:nd
  *2 仕様により測定膜厚範囲および測定波長範囲は異なります

テラヘルツ波により不透明な膜厚の測定が可能
● テラヘルツ膜厚専用機 TR-100T
テラヘルツ膜厚専用機 TR-100T
ヘッドの小型化で多様なサンプル形状に対応

測定項目 テラヘルツパルス波の反射時間波形
解析項目 膜厚、絶対反射率



新技術説明会
併催の新技術説明会では以下の内容でセミナーをおこないます。 ぜひご聴講ください。
テ ー マ ゼータ電位・粒径測定システムELSZシリーズによるバイオ分野への新展開
発表要旨 バイオ医薬品分野などでは、タンパク質の凝集・分散評価、物性評価が重要となります。 今回、光散乱測定によるゼータ電位および粒子径のアプリケーションを紹介します。
対象製品 ゼータ電位・粒径測定システム(ELSZ-1000 series)
日   時 2014年9月5日(金)14:25~15:15
会   場 ホテルニューオータニ幕張 N-4室
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