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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
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1月30日（水）から2月1日（金）まで、東京ビッグサイトで「nano tech 2013 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議」がおこなわれます。
大塚電子は、ゼータ電位・粒径測定システム、フロー式画像解析粒子径・形状測定装置、濃厚系粒径アナライザー、FPAR用オートサンプラー、キャピラリ電気泳動システム、テラヘルツ分光システム、膜厚モニターを展示いたします。（東4ホールブースNo.4F-16）
各種技術資料も取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。
また、シーズ＆ニーズセミナーでは「微粒子解析の新展開 －粒子径測定から形状解析まで－」というタイトルで講演をおこないます。こちらのセミナーにもご参加ください。お待ちしております。
大塚電子は、ゼータ電位・粒径測定システム、フロー式画像解析粒子径・形状測定装置、濃厚系粒径アナライザー、FPAR用オートサンプラー、キャピラリ電気泳動システム、テラヘルツ分光システム、膜厚モニターを展示いたします。（東4ホールブースNo.4F-16）
各種技術資料も取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。
また、シーズ＆ニーズセミナーでは「微粒子解析の新展開 －粒子径測定から形状解析まで－」というタイトルで講演をおこないます。こちらのセミナーにもご参加ください。お待ちしております。
| ●名 称 | nano tech 2013 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議 |  |
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| ●会 期 | 2013年1月30日（水）～2月1日（金） 10:00～17:00 | ||
| ●会 場 | 東京国際展示場（東京ビッグサイト） 東4・5・6ホール | ||
| ●入場料 | 3,000円 （事前登録された方には、無料招待券が送付されます） 事前登録を希望される方は nano tech 2012 ホーム ページ内のこちらのページからお申し込みください。 |
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| ●主 催 | nano tech 実行委員会 |
| ＜希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能＞ | ||||||||
| ● ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ-1000 series 従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位･粒子径測定が可能な装置です。粒子径測定範囲も（0.6nm～10μm）、濃度範囲（0.00001%～40%）に対応。電気浸透流を実測し、高精度なゼータ電位測定を可能とした業界最小容量130μL～のディスポーザブルセルで測定が可能です。
  ELSZシリーズとの組み合せにより、pHに対するゼータ電位変化を連続測定することが可能です。
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| ＜粒子径や形状のフロー式画像解析が可能＞ | ||
● フロー式画像解析粒子径・形状測定装置 Particle Insight Particle Insight は最新のフロー式画像解析装置です。
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| ＜ナノ粒子の分散状態評価、濃厚溶液での粒子径計測が可能＞ | ||||
● 濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000 希薄系から濃厚系まで、幅広い濃度領域での粒子径測定コロイド分散液やスラリーの分散状態の解析に最適です。
 FPARとオートサンプラーの組み合せで、50検体までの試料について粒子径の自動測定が可能です。 サンプル量が1mlで、安価なディスポセルを用いての測定が可能です。 |
| ＜陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析可能＞ | ||||||
●キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100 陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析が可能です。
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| ＜遠赤外（テラヘルツ）領域の小型分光器＞ | ||||
● テラヘルツ分光システム  高速・高分解能で時間領域分光測定が可能です。
固体、粉体、液体試料に対応しています。
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| 小型・低価格！簡単操作で、"非接触"膜厚測定！ | ||||||
● 膜厚モニター FE-300 薄膜から厚膜の幅広い膜厚測定に対応可能な光干渉式膜厚計です。 コンパクト・低価格でありながら高精度測定を実現します。
*2 仕様により測定膜厚範囲および測定波長範囲は異なります |
併催のシーズ＆ニーズセミナーでは以下の内容でセミナーをおこないます。
ぜひご聴講ください。
| ●テ ー マ | 微粒子解析の新展開 －粒子径測定から形状解析まで－ |
| ●対象製品 | ゼータ電位・粒径測定システム（ELSZ series） フロー式画像解析粒子径・形状測定装置 |
| ●日 時 | 2013年1月31日（木）10：30～11：15 |
| ●会 場 | シーズ＆ニーズセミナー B会場 |
