イベント　講習会情報－技術セミナー in 札幌

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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました

光を用いた各種分析装置を開発してきた大塚電子が、先端技術をサポートする各種分析装置とその測定技術・応用例などについての技術セミナーを開催いたします。
実際の装置を稼動させてご説明をおこないます。また、サンプルによっては当日のデモ測定も可能です。
ぜひ、この機会に大塚電子の製品を直接ご覧になってください。

●日　時	2013年7月19日（金）　10：00～16：00 （受付9：45～）
●費　用	無料
●会　場	札幌市民ホール　2階第1会議室（地図はこちら）　　地下鉄南北線東豊線大道駅31番出口正面　　住所：札幌市中央区北1条西1丁目
●お申込	お申込は終了させていただきました
●担　当	一原・和田　 TEL(042)644-4951 / FAX(042)644-4961

　【受付開始】　（９：４５～）

　【Seminar１】　（１０：００～１０：４０）

キャピラリー電気泳動測定原理のご紹介

Agilent7100

　　　キャピラリ電気泳動システム

Agilent7100

キャピラリー電気泳動法は、高い分解能と分析の迅速さに加え、サンプル量や溶媒消費量が最小限で済む優れた分離分析手法です。
使いやすい機能と豊富なアプリケーションキットにより、誰でも簡単に測定が可能です。
高価なカラムを使用せず、陽イオンや陰イオン、有機酸、金属イオン、核酸、糖、タンパク質など異なる成分を一台の装置で分析が可能です。

　【Seminar２】（１０：４０～１１：２０）

粒子径・ゼータ電位測定原理のご紹介

ELSZ-1000

　　　ゼータ電位・粒径測定システム
　　　濃厚系粒径アナライザー
　　　ファイバー光学動的光散乱光度計

ELSZ-1000 series （New）
FPAR-1000
FDLS-3000

粒子径、ゼータ電位測定は、分散・凝集のメカニズム解明に重要なパラメータです。希薄溶液から従来では測定困難であった濃厚溶液まで、幅広い濃度範囲で測定が可能です。オプションにはフィルムなどの平板状サンプルのゼータ電位が測定できる平板セルユニットなど種々のセルユニットを用意しており、様々な条件での測定が可能です。

　【Seminar３】　（１１：２０～１２：００）

膜厚測定原理のご紹介

FE-300

　　　組み込み型膜厚モニター
　　　膜厚モニター
　　　反射分光膜厚計
　　　分光エリプソメータ
　　　卓上型分光エリプソメータ

FE-3
FE-300
FE-3000
FE-5000
FE-5000S

分光干渉法により、非接触・非破壊かつ高速・高精度な膜厚測定が可能です。薄膜から厚膜まで幅広い膜厚に対応しています。
コンパクト・低価格でありながらも高精度測定を実現しました。
屈折率（n）、消衰係数（k）、膜厚（d）、絶対反射率の評価が可能です。

　【Demonstration】　（１３：００～１６：００）

「1.キャピラリー電気泳動」、「2.粒径・ゼータ電位、平板表面電位」、「3.膜厚測定」、３つのデモンストレーションを行います。時間内にすべてのデモをご覧頂くことも可能です

◎ キャピラリー電気泳動測定
　　　標準サンプルを使用して測定原理や流れをご説明します。
　　　サンプル測定をご依頼の場合、条件検討が必要なためお預かりして後日結果をご報告させて頂きます。

◎ 粒子径・ゼータ電位（平板表面電位）測定
　　　標準サンプルを使用して測定原理や流れをご説明します。
　　　水系サンプルでしたら当日のデモが可能です。有機溶媒系サンプルの場合、会場の関係でお預かりして後日結果を
　　　ご報告させて頂きます。
　　　平板サンプル測定をご依頼の場合は事前にご連絡下さい。

◎ 膜厚測定
　　　標準サンプルを使用して測定原理や流れをご説明します。
　　　当日のデモが可能です。事前にサンプル情報をご連絡下さい。

※デモンストレーション時は、サンプル測定の質問も承ります

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陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析可能

● キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100

陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析が可能です。
微量サンプルで短時間・高分解能な分析が可能です。

希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位･粒子径を一台で測定可能

● ゼータ電位・粒径測定システム　ELSZ-1000 series

従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位･粒子径測定が可能な装置です。粒子径測定範囲も（0.6nm～10000nm）、濃度範囲（0.00001%～40%）に対応。電気浸透流を実測し、高精度なゼータ電位測定を可能とした業界最小容量130μlのディスポーザブルセルで測定が可能です。

粒子径や形状のフロー式画像解析が可能

● フロー式画像解析粒子径・形状測定装置 Particle Insight

Particle Insight は最新のフロー式画像解析装置です。
粒子径だけでなく、形状も重要になる場合の用途に最適です。

小型・低価格！簡単操作で、"非接触"膜厚測定！

● 膜厚モニター FE-300

薄膜から厚膜の幅広い膜厚測定に対応可能な分光干渉式膜厚計です。
コンパクト・低価格でありながら高精度測定を実現します。

超高感度・高精度な低迷光マルチチャンネル分光光度計を用いた量子効率測定

● 量子効率測定システム QE-2000

蛍光スペクトルを積分半球を使用して測定する装置です。分光器や干渉フィルタを用いることにより任意の励起波長を選択することが可能です。紫外域での迷光を抑えることにより、高い量子効率をもつサンプルの高精度な測定を可能とします。
また、再励起蛍光発光の除去により高い反射率サンプルの高精度な量子効率測定ができます。

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＜機器展示＞
　　● ゼータ電位･粒径測定システム
　　　　　ELSZ-1000 series
　　● キャピラリー電気泳動システム
　　　　　Agilent7100
　　● 膜厚モニター
　　　　　FE-300

＜パネル展示＞
　　● 量子効率測定システム
　　　　　QE-2000
　　● フロー式画像解析粒子径・形状測定装置
　　　　　Particle Insight

お申込は終了させていただきました

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