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大塚電子 ニュース
JLEDSシンポジウム2012
無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました

9月4日にLED照明推進協議会(JLEDS)主催のシンポジウム「JLEDSシンポジウム2012」が東京・きゅりあんにて開催されます。
大塚電子は、このシンポジウムの併設展示会にて、LED評価機器の展示および弊社の最新技術を紹介します。
シンポジウムへお越しの際は、ぜひ弊社ブースにもお立ち寄りください。
名   称 JLEDSシンポジウム2012
会   期 2012年9月4日(火) 12:00~18:00 [ シンポジウムは 13:00~17:15 開催 ]
会   場 きゅりあん
申込方法 こちらよりお申込ください。
主   催 LED照明推進協議会
出展ブース「No.19」
出展ブース「No.19」
出展製品
【 量子効率 】
  超高感度・高精度・低迷光MCPD分光器を用いた量子効率測定
● 量子効率測定システム QE-2000
【量子効率評価】量子効率測定システム QE-2000
蛍光スペクトルを積分球を使用して測定する装置です。分光器や干渉フィルタを用いることにより任意の励起波長を選択することが可能です。紫外域での迷光を抑えることにより、高い量子効率をもつサンプルの高精度な測定を可能とします。

測定波長範囲 250nm ~ 800nm
励起波長範囲 250nm ~ 700nm
測定項目 蛍光スペクトル測定、量子効率測定


【 光源評価 】
  バックライトの評価も簡単により高精度に!
● 全光束測定システム(HaflMoon) HM series
全光束測定システム(HalfMoon) HM series
積分半球による光源評価のご提案です。積分球(全球)の弱点である「光源点灯治具の自己吸収」による誤差を解消、全光束評価が難しいバックライトなどの面発光光源も簡単に精度良く評価できるシステムを提供します。

特許取得済み
波長範囲 220nm ~ 1600nm (用途に応じて波長範囲の選択が可能)
検出器 瞬間マルチ測光検出器(MCPD検出器)
測定項目 全光束、分光放射束スペクトル、色度座標、相関色温度、
演色性評価数など

【 校正サービス 】
  計量法に基づく国家標準にトレーサブルで確実な校正サービスをご提供!
● JCSS校正サービス
全光束測定システム(HalfMoon) HM series
照明器具や光源の性能を校正に評価するために、光特性の測定方法の規格化など、さまざまな標準化が国の内外を問わず進められています。
それらが要求する測光は、「光」のトレーサビリティーを基本にしています。
大塚電子は、国際MRA対応のJCSS認定事業者として、JCSS認定の高品質な校正技術によるサービスを提供します。
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