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大塚電子 ニュース
技術セミナー in 埼玉                                無料
無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました

光を用いた各種分析装置を開発してきた大塚電子が、先端技術をサポートする各種分析装置とその測定技術・応用例などについての技術セミナーを開催いたします。
また、製品展示コーナーを併設し、実際の装置でのデモ測定(粒子径測定)を実施いたします。
ぜひ、この機会に大塚電子の製品を直接ご覧になってください。
ナノテクノロジー関連技術セミナー
日 時 2012年11月6日(火) 13:00~16:30 (受付12:30~)
費 用 無料
会 場 川口総合文化センター・リリア 11階大会議室(地図はこちら)
  住所:埼玉県川口市川口3-1-1
お申込 お申込は終了させていただきました
担 当 斎藤・中道
  TEL(042)644-4951 / FAX(042)644-4961
技術セミナープログラム

 【受付開始】 (12:30~)
 展示機器の見学や、「FPAR-1000」を用いた濃厚系から希薄系のサンプルについての粒子径のデモ測定が可能です。
 【Seminar1】 (13:00~13:45)
粉体、溶液、フィルムの蛍光測定
 ~ 高精度な量子効率を測定する為に ~
量子効率測定システム QE-2000
QE-2000
   量子効率測定システム
QE-2000 (New
粉体、溶液、フィルムの蛍光スペクトルを積分半球を使用して測定する装置です。
分光器を用いることにより任意の励起波長を選択することが可能であり、本セミナーでは、高精度な量子効率測定を行うための紫外域の迷光対策、再励起蛍光の補正等についてご紹介します。
 【Seminar2】 (13:45~14:30)
粒子径・ゼータ電位測定
  ~ コロイド粒子の分散評価から固体表面電位測定まで ~
ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ-1000 series
ELSZ-1000
   ゼータ電位・粒径測定システム
   濃厚系粒径アナライザー
   ファイバー光学動的光散乱光度計
ELSZ-1000 series (New
FPAR-1000
FDLS-3000
粒子径・ゼータ電位は、分散・凝集のメカニズム解明に重要なパラメータです。  
これらの測定原理とアプリケーションおよび新製品 ELSZ-1000 についてご紹介します
<コーヒーブレイク> (14:30~14:45)

 【Seminar3】 (14:45~15:05)
工業用ガスモニター IGシリーズの紹介
【FTIRガス分析装置】プロセス装置から排出されるPFCsガスの成分分析 -工業用ガス分析装置 IG-2000
IG-2000
   工業用ガス分析装置
   ガス中微量水分分析装置
IG-1000/2000
IG-1000V
FTIRを用いたガス濃度モニターIGシリーズは、半導体製造プロセス、燃料電池関連、プロセスガス製造プラントなどで活用されています。これらの測定例と装置の特長についてご紹介します。
 【Seminar4】 (15:05~15:45)
光干渉法膜厚測定の原理と応用
【膜厚評価】 小型・低価格!簡単操作で、"非接触"膜厚測定! 膜厚モニター FE-300
FE-300
   組み込み型膜厚モニター
   膜厚モニター
   反射分光膜厚計
   分光エリプソメータ
   卓上型分光エリプソメータ
FE-3
FE-300
FE-3000
FE-5000
FE-5000S
研究開発では膜厚と膜の物性値、生産ラインでは非接触でのリアルタイム膜厚管理に使用します。
測定原理から実際の装置構成、更に最新解析アルゴリズムまでをご紹介します。
 【Seminar5】 (15:45~16:30)
キャピラリー電気泳動測定の原理と応用
  ~ 医薬品、食品、環境、化学工業分野まで ~
キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100
Agilent7100
   キャピラリ電気泳動システム
Agilent7100
キャピラリー電気泳動はあらゆる分野で使用され、イオンから低分子物質など測定対象が広くなってきています。
それら測定対象物質の分離モードの原理からアプリケーションについてご紹介します。

 
セミナー関連製品
超高感度・高精度な低迷光マルチチャンネル分光光度計を用いた量子効率測定
● 量子効率測定システム QE-2000
量子効率測定システム QE-2000
蛍光スペクトルを積分半球を使用して測定する装置です。分光器や干渉フィルタを用いることにより任意の励起波長を選択することが可能です。紫外域での迷光を抑えることにより、高い量子効率をもつサンプルの高精度な測定を可能とします。
また、再励起蛍光発光の除去により高い反射率サンプルの高精度な量子効率測定ができます。
希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能
● ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ-1000 series
ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ-1000 series
従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位・粒子径測定が可能な装置です。粒子径測定範囲も(0.6nm~10000nm)、濃度範囲(0.00001%~40%)に対応。電気浸透流を実測し、高精度なゼータ電位測定を可能とした業界最小容量130μLのディスポーザブルセルで測定が可能です。
プロセス装置から排出されるPFCガスの成分分析
● 工業用ガス分析装置 IG-2000
【FTIRガス分析装置】プロセス装置から排出されるPFCsガスの成分分析 -工業用ガス分析装置 IG-2000
誰にでも現場で簡単にガス成分分析ができるプロセス用ガス連続モニターです。エプソンメソッドに対応した「PFC簡易測定ツール」を搭載。半導体・液晶工場におけるPFCガス(地球温暖化ガスなど)の現場分析に最適です。
小型・低価格!簡単操作で、"非接触"膜厚測定!
● 膜厚モニター FE-300
【膜厚評価】 小型・低価格!簡単操作で、"非接触"膜厚測定! 膜厚モニター FE-300
薄膜から厚膜の幅広い膜厚測定に対応可能な分光干渉式膜厚計です。
コンパクト・低価格でありながら高精度測定を実現します。
陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析可能
● キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100
キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100
陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析が可能です。
微量サンプルで短時間・高分解能な分析が可能です。


 
機器展示および技術相談コーナー
OPEN (12:30~16:30)
併設の展示コーナーでは、製品展示・パネル展示にて各製品をご紹介します。
ご不明な点などはお気軽に声をお掛けください。

<製品展示>
  ● ゼータ電位・粒径測定システム
     ELSZ-1000 series
  ● オートサンプラー付き濃厚系粒径アナライザー
     FPAR-1000AS
  ● キャピラリー電気泳動システム
     Agilent7100
  ● 膜厚モニター
     FE-300
  ● 量子効率測定システム
     QE-2000

<パネル展示>
  ● 各種関連装置のパネル

<デモ測定>
  ● オートサンプラー付き濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000AS
    【 デモ測定を希望される場合の注意事項 】
     ・測定希望の方は1週間前までにご連絡ください。事前に測定用のバイアル瓶を発送させていただきます。
     ・検体数は3検体まででお願いします。
     ・水系以外の試料では、溶媒の屈折率と粘度が必要です。
     ・サンプル量は1mL以上ご準備ください。
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