イベント　講習会情報－技術セミナー in 大阪

無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました

光を用いた各種分析・評価装置の開発に携わってきた大塚電子が分析装置および測定技術について技術セミナーを開催します。
また、製品展示コーナーも併設します。ぜひこの機会に大塚電子の製品を直接ご覧下さい。

●日　時	2012年7月10日（火）　11：10～16：30 （受付11：00～）
●費　用	無料
●会　場	CIVI新大阪研修センタ 902B（展示場）、903C（セミナー）（地図はこちら）　　住所：大阪市淀川区西中島3丁目9-13 NLC新大阪8号館
●お申込	お申込は終了させていただきました
●担　当	長谷川　 TEL(072)855-8564 / FAX(072)850-9159

11：00～16：30 902B

希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位･粒子径を一台で測定可能

●ゼータ電位・粒径測定システム　ELSZ-1000 series

従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位･粒子径測定が可能な装置です。粒子径測定範囲も（0.6nm～10000nm）、濃度範囲（0.00001%～40%）に対応。電気浸透流を実測し、高精度なゼータ電位測定を可能とした業界最小容量130μlのディスポーザブルセルで測定が可能です。

陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析可能

●キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100

陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析が可能です。
微量サンプルで短時間・高分解能な分析が可能です。

平面光源の全光束測定を高精度に評価

●全光束測定システム（ハーフムーン）　HM series

積分半球による光源評価のご提案です。積分球（全球）の弱点である「光源点灯治具の自己吸収」による誤差を解消、平面光源も簡単にそして精度良く評価できるシステムを提供します。

超高感度・高精度な低迷光マルチチャンネル分光光度計を用いた量子効率測定

●量子効率測定システム QE-2000

蛍光スペクトルを積分半球を使用して測定する装置です。分光器や干渉フィルタを用いることにより任意の励起波長を選択することが可能です。紫外域での迷光を抑えることにより、高い量子効率をもつサンプルの高精度な測定を可能とします。
また、再励起蛍光発光の除去により高い反射率サンプルの高精度な量子効率測定ができます。

小型・低価格！簡単操作で、"非接触"膜厚測定！

●膜厚モニター FE-300