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大塚電子 ニュース
第3回 次世代照明 技術展 -ライティング・ジャパン-
無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました

2011年1月19日(水)より、「第3回 次世代照明 技術展 -ライティング・ジャパン-」が開催されます。
本展示会では、照明・光源評価を中心に新製品・新技術をご紹介します。
光源と器具が一体化した照明装置の分光全光束測定を、簡単な操作で実現する全光束測定システム(ハーフムーン)HM series。今回は蛍光灯(長さ;1198mm)対応のφ1650mmハーフムーンと、温調ユニット付きφ500mmハーフムーンの2つを展示します。
ぜひ弊社ブース(西2-31)で実機をご覧ください。ご来場お待ちしております。
名   称 第3回 次世代照明 技術展
  -ライティング・ジャパン-
   「第3回 次世代照明技術展 -ライティング・ジャパン-」  
会   期 2011年1月19日(水)~21日(金)  
会   場 東京国際展示場(東京ビッグサイト) 西ホール  
主   催 リードエグジビション ジャパン株式会社  
同時開催 ネプコンジャパン 2011
第3回 国際カーエレクトロニクス技術展
第2回 EV・HEV 駆動システム技術展
第1回 クルマの軽量化技術展
 
【 アポイントメント・シートについて 】

アポイントメント・シートの受付は終了させていただきました。
 お客様のご来場時に確実にご対応できますように、アポイントメントシートをご用意させていただきました。こちらよりお申込みください。
  ・ご来場の日時をご連絡いただければ、弊社ブースにて担当者がお待ち しております。
  ・事前に当日の質問内容、ご要望をお聞かせいただければ、お客様に あったご提案を差し上げることも
   可能です。
  ・アポイントメントにお申し込みいただきますと、弊社ブースご来場時に 粗品をお渡しいたします。

出展ブース「西2-31」西1ホール

出展ブース「西2-31」西1ホール
出展製品
【 光源評価 】
  バックライトの評価も簡単により高精度に!
● 全光束測定システム(HaflMoon) HM series
全光束測定システム(HalfMoon) HM series
積分半球による光源評価のご提案です。積分球(全球)の弱点である「光源点灯治具の自己吸収」による誤差を解消、全光束評価が難しいバックライトなどの面発光光源も簡単に精度良く評価できるシステムを提供します。

特許取得済み
波長範囲 220nm ~ 1600nm (用途に応じて波長範囲の選択が可能)
検出器 瞬間マルチ測光検出器(MCPD検出器)
測定項目 全光束、分光放射束スペクトル、色度座標、相関色温度、
演色性評価数など
【 輝度評価 】
  330nm~1100nmの高波長帯域に対応!
● 高感度分光放射輝度計 HS series
高感度分光放射輝度計 HS-1000
0.005cd/m2の超低輝度から400,000cd/m2の高輝度まで高速・高精度測定が可能な分光放射輝度計です。PDの基本性能に重要なメガコントラスト、応答速度測定対応可能です。

波長範囲 330 nm ~ 1100 nm
精度範囲 0.005 cd/m2 ~ 400,000 cd/m2
検出器 分光方式
測定項目 放射輝度(W/Sr/m2)、輝度(cd/m2)、色度座標(xy、u'v')、
三刺激値(XYZ)、相関色温度、偏差など
【 量子効率 】
  超高感度・高精度・低迷光MCPD分光器を用いた量子効率測定
● 量子効率測光システム QE-1000
【量子効率評価】量子効率測光システム QE-1000
蛍光スペクトルを積分球を使用して測定する装置です。分光器や干渉フィルタを用いることにより任意の励起波長を選択することが可能です。紫外域での迷光を抑えることにより、高い量子効率をもつサンプルの高精度な測定を可能とします。

波長範囲 240nm ~ 800nm
膜厚範囲 250nm ~ 700nm
測定項目 蛍光スペクトル測定、量子効率測定


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