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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
10月26日からパシフィコ横浜で行われる「FPD International 2011」に出展
します。本展示会では、照明・光源評価を中心に新製品・新技術をご紹介します。
大塚電子ブースでは、高速・高精度な測光・測色計測装置をご紹介します。光源と器具が一体化した照明装置の分光全光束測定を簡単な操作で実現する「全光束測定システム（ハーフムーン）」。
この他にサンプル測定部を改良し、さらに使いやすくなった「量子効率測定装置システム」などを実機展示します。
展示会にお越しの際は、ぜひ弊社ブースへもお立ち寄りください。
大塚電子ブースでは、高速・高精度な測光・測色計測装置をご紹介します。光源と器具が一体化した照明装置の分光全光束測定を簡単な操作で実現する「全光束測定システム（ハーフムーン）」。
この他にサンプル測定部を改良し、さらに使いやすくなった「量子効率測定装置システム」などを実機展示します。
展示会にお越しの際は、ぜひ弊社ブースへもお立ち寄りください。
| ●名 称 | FPD International 2011 |
| ●会 期 | 2011年10月26日（水）～28日（金） 10：00～17：00 |
| ●会 場 | パシフィコ横浜 |
| ●入 場 料 | 2000円 （事前登録者は無料） |
| ●主 催 | 日経BP社 |
| ●同時開催 | LEDソリューション 2011 電力マネジメント 2011 Smart City Week 2011 |
・ご来場の日時をご連絡いただければ、弊社ブースにて担当者がお待ち
しております。
・事前に当日の質問内容、ご要望をお聞かせいただければ、お客様に あったご提案を差し上げることも
可能です。
・アポイントメントにお申し込みいただきますと、弊社ブースご来場時に粗品をお渡しいたします。
・事前に当日の質問内容、ご要望をお聞かせいただければ、お客様に あったご提案を差し上げることも
可能です。
・アポイントメントにお申し込みいただきますと、弊社ブースご来場時に粗品をお渡しいたします。
| 【 光源評価 】 バックライトなどの面発光光源評価も簡単により高精度に！ |
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● 全光束測定システム（ハーフムーン） HM series 積分半球による光源評価のご提案です。積分球（全球）の弱点である「光源点灯治具の自己吸収」による誤差を解消、全光束評価が難しいバックライトなどの面発光光源も簡単に精度良く評価できるシステムを提供します。
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| 【 量子効率評価 】 超高感度・高精度な低迷光マルチチャンネル分光光度計を用いた量子効率測定 |
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● 量子効率測光システム QE-1000  蛍光スペクトルを積分半球を使用して測定する装置です。分光器や干渉フィルタを用いることにより任意の励起波長を選択することが可能です。紫外域での迷光を抑えることにより、高い量子効率をもつサンプルの高精度な測定を可能とします。
また、再励起蛍光発光の除去により高い反射率サンプルの高精度な量子効率測定ができます。
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| 【 輝度評価 】 超低輝度（0.005cd/m2）から高輝度（400,000cd/m2）！ |
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● 高感度分光放射輝度計 HS series 330nmから1100nmの広波長域での高速・高精度測定が可能な分光放射輝度計です。FPDの基本性能に重要なメガコントラスト、応答速度測定に対応可能です。
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| 【 膜厚評価 】 小型・低価格！簡単操作で、"非接触"膜厚測定！ |
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● 膜厚モニター FE-300 薄膜から厚膜の幅広い膜厚測定に対応可能な光干渉式膜厚計です。 コンパクト・低価格でありながら高精度測定を実現します。
*2 仕様により測定膜厚範囲および測定波長範囲は異なります |
