 |
 |
 |
 |
無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
本展示会では、さまざまな分野で利用される高機能性フィルムの光学特性評価装置を展示・紹介します。
今回は、外観をリニューアルしてさらに使い勝手が向上した「膜厚モニター FE-300」と、最短0.025秒の高速タクトタイムを実現した「インライン高速リタデーションモニター RE-200」をご紹介します。また、インラインに最適な装置をご提案します。
お客さまが求める製品の実現に向けて、弊社の光計測技術が多様なニーズにお応えします。
ぜひ弊社ブース（11-14）へお立ち寄りください。
今回は、外観をリニューアルしてさらに使い勝手が向上した「膜厚モニター FE-300」と、最短0.025秒の高速タクトタイムを実現した「インライン高速リタデーションモニター RE-200」をご紹介します。また、インラインに最適な装置をご提案します。
お客さまが求める製品の実現に向けて、弊社の光計測技術が多様なニーズにお応えします。
ぜひ弊社ブース（11-14）へお立ち寄りください。
| ●名 称 | 第2回 高機能フィルム技術展 -フィルムテック ジャパン- |
| ●会 期 | 2011年4月13日（水）～15日（金） |
| ●会 場 | 東京国際展示場（東京ビッグサイト） 東2ホール |
| ●主 催 | リードエグジビション ジャパン株式会社 |
| ●同時開催 | 第21回 ファインテックジャパン Photonix 2011 |
【 アポイントメント・シートについて 】
アポイントメント・シートの受付は終了させていただきました。
アポイントメント・シートの受付は終了させていただきました。
・ご来場の日時をご連絡いただければ、弊社ブースにて担当者がお待ち
しております。
・事前に当日の質問内容、ご要望をお聞かせいただければ、お客様に あったご提案を差し上げることも
可能です。
・アポイントメントにお申し込みいただきますと、弊社ブースご来場時に粗品をお渡しいたします。
・事前に当日の質問内容、ご要望をお聞かせいただければ、お客様に あったご提案を差し上げることも
可能です。
・アポイントメントにお申し込みいただきますと、弊社ブースご来場時に粗品をお渡しいたします。
| 【 膜厚評価 】 小型・低価格！簡単操作で、"非接触"膜厚測定！ |
||||||
● 膜厚モニター FE-300 薄膜から厚膜の幅広い膜厚測定に対応可能な光干渉式膜厚計です。 コンパクト・低価格でありながら高精度測定を実現します。
*2 仕様により測定膜厚範囲および測定波長範囲は異なります |
| 【 膜厚評価 】 多層膜の膜厚・膜質解析を高速・高精度で実現！ |
||||||||
● 反射分光膜厚計 FE-3000 マルチチャンネル検出器による高速性と、顕微光学系による多機能を付加した光干渉式膜厚測定システムです。紫外可視域から近赤外域までの顕微反射スペクトルにより、多層薄膜から厚膜まで幅広いレンジの膜厚測定を高速・高精度で実現します。半導体材料、FPD材料、光記憶材料、新機能性材料など、多様化する各種膜厚、膜質解析にお応えします。
|
 |
||||||
 弊社のコア技術である分光計測技術を最大限活用することで、製品品質の評価方法から製造ラインでの品質管理方法、さらに生産現場での用途や生産ライン状況に応じた最適な品質評価方法をご提案します。
（写真：トラバースタイプ）
|
||||||
| 【 Re.評価 】 最短0.025秒（40Hz）の速さで低Re.と主軸方位角の同時測定を実現！ |
||||||
● インライン高速リタデーションモニター RE-200  偏光計測モジュールを用いた計測システムです。低リタデーションサンプルのリタデーションおよび主軸方位角を同時にかつ高速で測定できます。形状がコンパクトであり、高速測定が可能なことから、フィルムや光学材料のインライン測定に最適です。
|
||||||
| 【 透過反射 】 紫外・可視・近赤外！広い波長域と用途に合わせた自由な光学系をご提案 |
||||||
● インライン分光透過・反射モニター 紫外から近赤外領域に対応した多機能マルチチャンネル分光器を用いたシステムです。最小16msでスペクトルの測定が可能です。標準装備のファイバーを用いてサンプル種を特定することなく、さまざまな測定系に対応することができます。
|
