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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
本セミナーは、大塚電子の膜厚測定機器を実際に操作していただくことで、FEシリーズの測定原理、機器の操作方法、および解析手法を
理解していただく実機デモ体験セミナーです。
【対象】
・大塚電子の膜厚測定機器をご使用中の方
・解析などでお悩みの方
・良否判定などの評価でお悩みの方
・効率的な膜厚管理をお考えの方
FEシリーズの購入をご検討中の方もぜひご参加いただき、この機会にFEシリーズに触れて、その操作性をご体感ください。
皆様の参加申し込みをお待ちしております。
| ●開催日 | 2011年10月5日（水） 13：00～17：00 （受付12：30～） |
| ●会 場 | 大塚電子（株）東京支店内 |
| ●お申込 | お申込は終了させていただきました |
| ●定 員 | 10名 |
| ●費 用 | 無料 |
| 省スペース・高機能エリプソメータを低価格にてご提供 |
● 卓上型分光エリプソメータ FE-5000S 高精度な膜厚解析・光学定数解析が可能な卓上型分光エリプソメータです。自動角度可変測定、全角度同時解析など高機能仕様の分光エリプソメータを低価格・省スペースにて実現しました。薄膜材料における多層薄膜の膜厚解析が可能であり、膜厚管理・膜質管理に有用な情報を提供することが可能です。 |
10：00～12：00
個別技術相談 （希望者のみ）
お客様が抱えている技術的な問題に個別で相談に応じます。（先着2組様まで）※ご希望の方は申し込みフォーム内の「個別技術相談」の項目に、相談内容をご入力ください
＜ 休憩 12：00～13：00 ＞
13：00～15：00
エリプソメーター 基礎からレシピ作成まで
エリプソメーターについて、基礎知識のわかりやすい説明と、光学モデルと誘電関数モデルの作成例の紹介
＜ 休憩 15：00～15：15 ＞
15：15～17：00
操作体験・実機デモ
実機（卓上型分光エリプソメータ FE-5000S）による測定および操作レシピの作成※ 満席後にお申し込みいただきましたお客様へは、誠に恐縮ですが別日程で調整をさせていただきます。
※ 競合となる企業様のご参加につきましては、お断りさせていただく場合があります。
※ 内容につきましては、都合により変更させて頂く場合がございます。あらかじめご了承ください。
