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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
本セミナーは、大塚電子の膜厚測定機器を実際に操作していただくことで、FEシリーズの測定原理、機器の操作方法、および解析手法を
理解していただく実機デモ体験セミナーです。
【対象】
・大塚電子の膜厚測定機器をご使用中の方
・解析などでお悩みの方
・良否判定などの評価でお悩みの方
・効率的な膜厚管理をお考えの方
皆様の参加申し込みをお待ちしております。
| ●開催日 | 2011年10月7日（金） 13：00～15：00 （受付12：30～） |
| ●会 場 | 大塚電子（株）本社内 |
| ●お申込 | お申込は終了させていただきました |
| ●定 員 | 10名 |
| ●費 用 | 無料 |
| 多層膜の膜厚・膜質評価を高速・高精度で実現！ |
●反射分光膜厚計 FE-3000 マルチチャンネル検出器による高速性と、顕微光学系による多機能を付加した光干渉式膜厚測定システムです。紫外可視域から近赤外域までの顕微反射スペクトルにより、多層薄膜から厚膜まで幅広いレンジの膜厚測定を高速・高精度で実現します。半導体材料、FPD材料、光記憶材料、新機能性材料など、多様化する各種膜厚、膜質解析にお応えします。
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10：00～12：00
個別技術相談 （希望者のみ）
お客様が抱えている技術的な問題に個別で相談に応じます。（先着2組様まで）※ご希望の方は申し込みフォーム内の「個別技術相談」の項目に、相談内容をご入力ください
＜ 休憩 12：00～13：00 ＞
13：00～15：00
膜厚解析手法について
測定した反射スペクトルとフィッティングスペクトルの見方、材料による誘電関数モデルの選択、パラメータの設定など膜厚解析でぶつかる疑問点を解説します。
※ 満席後にお申し込みいただきましたお客様へは、誠に恐縮ですが別日程で調整をさせていただきます。
※ 競合となる企業様のご参加につきましては、お断りさせていただく場合があります。
※ 内容につきましては、都合により変更させて頂く場合がございます。あらかじめご了承ください。
