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大塚電子 ニュース
製品技術セミナー in 福山                                 無料
無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました

長年にわたり大塚電子は、光を用いた各種分析・評価装置の開発をおこなってきました。現在では、高分子・化学工業、機能性フィルム、半導体など様々な分野で、特長ある分析装置および計測装置をご使用いただいております。今回はその中の3つの製品技術について、セミナーを開催します。皆様の奮ってのご参加をお待ちしております。
また、製品展示コーナーも併設します。ぜひこの機会に大塚電子の製品を直接ご覧下さい。

 

ナノテクノロジー関連技術セミナー
日 時 2011年7月7日(木) 13:30~16:40 (開場 13:00~)
費 用 無料
会 場 SOHO福山倶楽部 6F 会議室 (地図はこちら)
  住所:福山市東桜町1-41 エム・シー福山ビル
お申込 お申込は終了させていただきました
担 当 川上・川西
  TEL(072)855-8564 / FAX(072)850-9159
ご紹介製品
希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能
●ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series
ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series
従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位・粒子径測定が可能な装置です。粒子径測定範囲も(0.6nm~7μm)、濃度範囲(0.001%~40%)に対応。装置も従来装置に比べコンパクトになり、取扱いが簡単な電気泳動セルにより操作性が向上しました。

無機イオンや有機酸などのイオン分析が手軽に可能
●キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100
キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100

陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析が可能です。
微量サンプルで短時間・高分解能な分析が可能です。



小型・低価格!簡単操作で、"非接触"膜厚測定!
●膜厚モニター FE-300
膜厚モニター FE-300
薄膜から厚膜の幅広い膜厚測定に対応可能な光干渉式膜厚計です。
コンパクト・低価格でありながら高精度測定を実現します。
安価でお求めやすい固定ステージ仕様と、マッピング測定が可能な自動ステージ仕様の2種類をラインナップしています。

技術セミナープログラム

 【受付開始】 (13:00~)
 【Seminar1】 (13:30~14:20)
 キャピラリー電気泳動の基礎と応用
   ・キャピラリ電気泳動システム
Agilent 7100
 キャピラリー電気泳動装置(CE)は、低分子イオンから高分子ポリマーにおよぶ幅広い成分の分析用ツールとして注目
 されています。今回は、CEの測定原理からアプリケーション、そして新製品「Agilent7100」についてご紹介します。
 【Seminar2】 (14:40~15:30)
 初心者にも分かるナノ微粒子の分散・安定性評価技術
   ・ゼータ電位・粒径測定システム
   ・濃厚系粒径アナライザー
ELSZ シリーズ
FPAR-1000シリーズ
 ナノマテリアル・サブミクロン粒子の分散凝集性や界面・表面処理の評価法として、ゼータ電位および粒子径測定技術に
 ついてご紹介します。
 【Seminar3】 (15:50~16:40)
 光学式膜厚測定による各種用途に応じた評価方法
   ・反射分光膜厚計
   ・分光エリプソメータ
   ・インライン計測システム
FE-3 / FE-300 / FE-3000
FE-5000 / FE-5000S
MCPDシリーズ
 薄膜(0.1nm)~超厚膜(1mm)までの各種用途に応じた膜厚評価ソリューションを、R&Dからインライン検査まで個々の状況
 に応じた評価装置とともにご紹介します。
機器展示および技術相談コーナー
OPEN (13:00~)
セミナー会場の展示コーナーでは、製品展示・パネル展示にて各製品をご紹介します。
ご不明な点などはお気軽に声をお掛けください。

<製品展示>
  ● ゼータ電位・粒径測定システム
     ELSZ series
  ● 瞬間マルチ測光システム
     MCPD-9800
  ● 膜厚モニター
     FE-300

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