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大塚電子 ニュース
LED照明の評価技術と将来展望に関するセミナー
無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました

2011年4月 吉日

 お客様各位

 平成23年3月11日に発生した東北地方太平洋沖地震により被災された皆様に心からのお見舞いを申し上げますと共に、皆様の安全と一日も早い復旧・復興を心よりお祈り申し上げます。

 さて、このたびの東北地方太平洋沖地震の影響により、当初4月20日に予定しておりました「LED照明の評価技術と将来展望に関するセミナー」は、6月28日に変更して開催いたします。参加申し込みをいただいていた皆様には、ご迷惑をおかけいたしますことを心よりお詫び申し上げます。なにとぞ、ご理解のほどお願い申し上げます。

 本セミナーは、大塚電子株式会社が、計量法に基づく校正事業者登録制度(JCSS)により、登録区分:「光」の国際MRA対応の校正事業者として2011年2月に登録されたことを記念して開催するものです。  
 昨今、新しい光源としてLED照明の開発が進んでおりますが、このLED光源の評価方法やその評価に必要な標準光源の提供が十分ではないというのが現状です。これを踏まえまして、今回のセミナーでは、評価の技術的なポイントや、国内外における標準化の動向についてご紹介する予定でおります。LED照明に携わる皆様には、ぜひとも多数のご参加を賜りますようお願い申し上げます。  
 また、セミナー終了後には情報交換会を開催する予定にしております。この機会を利用して直接講師の先生方と親交を深めていただき、今後の事業発展にお役立て頂ければと存じます。

 皆様のご参加を心よりお待ち申し上げております。

敬 具

大塚電子株式会社
取締役 船戸 正好


日   時 2011年4月20日(水) → 2011年6月28日(火)
セミナー
13:00~17:10 (受付12:00~)
情報交換会
17:30~18:30
会   場 日本薬学会 長井記念館 長井記念ホール B1F (地図はこちら)
 住所:東京都渋谷区渋谷2-12-15
 TEL:03-3406-3326  FAX:03-3406-7580
参 加 費 無料
お申込み お申し込みは終了させていただきました
担   当 セミナー事務局 (西井)
  TEL(072)855-8554 / FAX(072)850-9159

プログラム
13:00 ~ 15:20
 第1部 「LED照明の評価技術と将来展望」
座長 竹下 秀
東海大学 総合科学技術研究所 准教授
13:00~13:40
「日本における測光技術構築の歴史」
 講師: 中川 靖夫 (埼玉大学 名誉教授)
我が国の測光技術の歴史を観ると、およそ4期に区分されます。第一期は我が国の光度単位が設定された1911年以降の視感測光の時代、第二期は1950年以降の放電ランプの普及に伴う分光測光の時代、第三期は1975年以降の放射の応用の多様化の時代で、測光技術がそのニーズの拡大に追従しきれなかった時代。第4期は、照明用LEDの出現による測光技術の再構築の時代です。そして今、照明用LEDの出現で新規参入が広がった照明産業での品質保証を担保する社会的な計測トレーサビリティシステムの構築が課題となっています。
 
13:40~14:30
「測光・放射測定分野における計量標準と国際相互承認」
 講師: 蔀 洋司 (産業技術総合研究所 計量標準総合センター(NMIJ) 主任研究員)
日本国内の計量標準の供給体制(JCSS)の現状と今後供給が予定されている標準についてご紹介します。また、国内標準と海外標準との関係と、不確かさの程度の違い、そして現状、国際MRA対応JCSSトレーサブルなデータが海外でどの程度受け入れられているのかをご紹介します。
 
14:30~15:20
「LED照明器具の測定実例」
 講師: 岩永 敏秀 
     (東京都立産業技術研究センター 開発本部 開発第1部 光音グループ 主任研究員)
近年、LED照明器具の普及に伴い、測光・測色へのニーズが非常に高まっています。東京都立産業技術研究センターでは、照明用光源や照明器具の測光・測色に関する依頼試験を行っていますが、その経験から、LED照明器具の測定方法や測定の実例などについてご紹介します。
 
15:20~15:40
   - 休憩 -
15:40 ~ 17:10
 第2部 「大塚電子(株)のLED照明評価とJCSS」
司会 船戸 正好
大塚電子株式会社 取締役
15:40~16:25
「大塚電子(株)のLED照明評価への取り組み」
 講師: 大久保 和明 (大塚電子株式会社 開発生産本部 開発2部部長)
LED照明評価に要求される光計測技術は、配光が2πに近く、発光部と点灯装置が一体となるなど従来の光源・照明の評価方法では、誤差要因が大きいという課題がありました。これに対して大塚電子では、従来の測定装置の概念をこえた、積分半球や低迷光ポリクロメータなどの技術を開発商品化しました。講演では、これらの新技術について解説します。
 
16:25~17:10
「大塚電子(株) JCSS事業の紹介」
 講師: 大嶋 浩正 (大塚電子株式会社 光校正研究室室長)
「光」の国際MRA対応の校正事業者に認定された業務内容をご紹介します。当事業所では、「光度標準光源」及び「光束標準光源」にランプの校正に加えて、LEDの校正も実施できます。当社の分光検出器(ポリクロメータ)のMCPDをベースに設備を構築しており、被校正器物の分光分布の違いによる不確かさ(異色測光誤差)を小さく抑えました。
 
17:30 ~ 18:30
 情報交換会
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お申込は終了させていただきました
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