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大塚電子 ニュース
nano tech 2010 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議
無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました


2月17日(水)から19日(金)まで、東京ビッグサイトで「nano tech 2010国際ナノテクノロジー総合展・技術会議」がおこなわれます。
大塚電子は、ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series、卓上型超遠心機 Optima MAX-XP、ファイバー光学動的光散乱光度計 FDLS-3000、濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000、オートサンプラー(FPAR用) FP-3000、卓上型分光エリプソメータ FE-5000S、テラヘルツ分光器 TR-1000 を展示いたします(東4ホールブースNo.A-06)。各種技術資料も取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。

また、シーズ&ニーズセミナーでは「光散乱技術が導くナノ粒子測定」というタイトルで講演をおこないます。
こちらのセミナーにもご参加ください。お待ちしております。
 
名  称 nano tech 2010 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議
会  期 2010年2月17日(水)~19日(金) 10:00~17:00
会  場 東京国際展示場(東京ビッグサイト) 東4・5・6ホール
入場料 3,000円 (事前登録された方には、無料招待券が送付されます)
  事前登録を希望される方は nano tech 2010 ホームページ内の
  こちらのページからお申し込みください。 
主  催 nano tech 実行委員会
併  催 ナノバイオ Expo 2010 , ASTEC 2010 , METEC '10
新機能性材料展 2010 , Inter Aqua 2010
出展ブース「東4ホール A-06」
出展ブース「東4ホール A-06」
出展製品
<希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能>
● ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series
ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series
従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位・粒子径測定が可能です。
粒子径測定範囲も(0.6nm~7000nm)、濃度範囲(0.001%~40%)に対応。装置も従来装置に比べコンパクトになり、取扱いが簡単な電気泳動セルにより操作性が向上しました。

ゼータ電位 -200mV ~ 200mV
粒子径・粒度分布
  (Z-2仕様)
0.6nm ~ 7000nm
対応濃度範囲 0.001% ~ 40% *1
電気移動度 -20×10-4 ~ 20×10-4 cm2/s・V
*1(Latex115/262nm: 0.001 ~ 10%、タウロコール酸: ~ 40%)
● ELSZ用pHタイトレーターシステム
ELSZ用pHタイトレーターシステム
ELSZシリーズとの組み合せにより、pHに対するゼータ電位変化を連続測定することが可能になります。
● 卓上型超遠心機 Optima MAX-XP
卓上型超遠心機 Optima MAX-XP
最高回転数150,000rpmを提供する卓上型超遠心機Optima MAX-XPは、核酸・タンパク質からカーボンナノチューブまで幅広いサンプル分離に応用できます。

最高回転数 150,000rpm
最大遠心力 1,019,000g
<ナノ粒子の分散状態評価、濃厚溶液での粒子径計測が可能>
● 濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000
濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000
希薄系から濃厚系まで、幅広い濃度領域での粒子径測定コロイド分散液やスラリーの分散状態の解析に最適です。

粒子径・粒度分布 1nm ~ 5000nm(高感度仕様)
対応濃度範囲 0.001% ~ 10%
● FPAR用オートサンプラー
オートサンプラー付濃厚系粒径アナライザー
FPARとオートサンプラーの組み合せで、50検体までの試料について粒子径の自動測定が可能です。
サンプル量が1mlで、安価なディスポセルを用いての測定が可能です。

<ナノ粒子を高精度かつ容易に測定が可能、高温・高圧セルなど特殊セルにも対応>
●ファイバー光学動的光散乱光度計 FDLS-3000
【粒子径測定】ナノ粒子を高精度かつ容易に測定が可能、高温・高圧セルなど特殊セルにも対応 -ファイバー光学動的光散乱光度計 FDLS-3000
固体レーザーと高感度検出器により、ナノ粒子 0.5nm ~ 5000nmのサブミクロン粒子を精度よく測定することが出来ます。

粒子径・粒度分布 0.5nm ~ 5000nm
<コンパクト・高機能エリプソメータを低価格で提供!>
● 卓上型分光エリプソメータ FE-5000S
【膜厚評価装置】コンパクト・高機能エリプソメータを低価格で提供! -卓上型分光エリプソメータ FE-5000S
高精度な膜厚解析・光学定数解析が可能な卓上型分光エリプソメータです。自動角度可変測定、全角度同時解析など高機能仕様の分光エリプソメータを低価格・省スペースにて実現しました。薄膜材料における多層薄膜の膜厚解析が可能であり、膜厚管理・膜質管理に有用な情報を提供することが可能です。

測定膜厚範囲 0.1nm ~ 1μm
測定波長範囲 300nm ~ 800nm
検出器 ポリクロメータ (PDA、CCD)
測定項目 エリプソパラメータ(cosΔ,tanψ)
光学定数解析(k:消衰係数、n:屈折率)、膜厚解析
<遠赤外(テラヘルツ)領域の小型分光器>
● テラヘルツ分光器
テラヘルツ分光器
高速・高分解能で時間領域分光測定が可能です。
固体、粉体、液体試料に対応しています。

測定周波数域 0.04 ~ 7 THz  (1THz=1012Hz=0.3mm)
対象試料 粉体・固体・液体

シーズ&ニーズセミナー
併催のシーズ&ニーズセミナーでは以下の内容でセミナーをおこないます。 ぜひご聴講ください。
テ ー マ 光散乱技術が導くナノ粒子測定
発表要旨 光散乱測定では、ナノ粒子測定が可能である。
本講演では、最近の機能性材料 (カーボンナノチューブ、フラーレン、デンドリマー、金属ナノ粒子など)や生体関連物質(タンパク質、リポソーム、界面活性剤、高分子電解質、ゲルなど)の粒径・ゼータ電位測定例とその評価方法を紹介する。
対象製品 ゼータ電位・粒径測定システム(ELSZ series)
日   時 2010年2月19日(金)11:30~12:15
会   場 シーズ&ニーズセミナー A会場
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