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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
本展示会では、照明・光源評価を中心に新製品・新技術をご紹介します。
大塚電子では、高速・高精度な測光・測色計測装置をご紹介します。光源と器具が一体化した照明装置の分光全光束測定を、簡単な操作で実現する全光束測定システム（ハーフムーン）HM series。
今回は蛍光灯（長さ；1198mm）対応のφ1600mmハーフムーンを展示します。ぜひ弊社ブースで実機をご覧ください。
お客さまが求める製品の実現に向けて、弊社の光計測技術が多様なニーズにお応えします。
ぜひ弊社ブース（L2-5）へお立ち寄りください。
大塚電子では、高速・高精度な測光・測色計測装置をご紹介します。光源と器具が一体化した照明装置の分光全光束測定を、簡単な操作で実現する全光束測定システム（ハーフムーン）HM series。
今回は蛍光灯（長さ；1198mm）対応のφ1600mmハーフムーンを展示します。ぜひ弊社ブースで実機をご覧ください。
お客さまが求める製品の実現に向けて、弊社の光計測技術が多様なニーズにお応えします。
ぜひ弊社ブース（L2-5）へお立ち寄りください。
| ●名 称 | 第2回 次世代照明 技術展 -ライティング･ジャパン- | ||
| ●会 期 | 2010年4月14日（水）～16日（金） | ||
| ●会 場 | 東京国際展示場（東京ビッグサイト） 東2ホール | ||
| ●主 催 | リードエグジビション ジャパン株式会社 | ||
| ●同時開催 | 第1回高機能フィルム技術展 -フィルムテック･ジャパン- 第20回 ファインテックジャパン -フラットパネルディスプレイ研究開発･製造技術展- |
■同時出展 フィルムテックジャパンにも出展 （ブース：F3-21）いたします。 |
| 【 光源評価 】 バックライトの評価も簡単により高精度に！ |
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● 全光束測定システム（ハーフムーン） HM series 積分半球による光源評価のご提案です。積分球（全球）の弱点である「光源点灯治具の自己吸収」による誤差を解消、全光束評価が難しいバックライトなどの面発光光源も簡単に精度良く評価できるシステムを提供します。
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| 【 輝度評価 】 330nm～1100nmの広波長帯域に対応！ |
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● 高感度分光放射輝度計 HS series 330nm～1100nmの広波長域において高速・高精度測定が可能な分光放射輝度計です。ランプなど照明光源の分光データ・輝度・色度・相関色温度測定に最適です。
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| 【 量子効率評価 】 超高感度・高精度な低迷光マルチチャンネル分光光度計を用いた量子効率測定 |
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● 量子効率測光システム QE-1000  蛍光スペクトルを積分半球を使用して測定する装置です。分光器や干渉フィルタを用いることにより任意の励起波長を選択することが可能です。紫外域での迷光を抑えることにより、高い量子効率をもつサンプルの高精度な測定を可能とします。
また、再励起蛍光発光の除去により高い反射率サンプルの高精度な量子効率測定ができます。
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