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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
12月1日（水）から12月3日（金）まで東京ビッグサイトで行なわれる「粉体工業展東京2010」に出展します。
大塚電子のブースでは、粉体粒子の分散評価に最適なゼータ電位・粒径測定装置をはじめ各種さまざまな実機を展示します。
製品技術説明会では、「粒子径およびゼータ電位測定による機能性粉体粒子の分散評価」というテーマで講演をおこないます。
各種技術資料も取り揃えて皆様のご来場をお待ちしております。ぜひ弊社ブースにお立ち寄りください。
大塚電子のブースでは、粉体粒子の分散評価に最適なゼータ電位・粒径測定装置をはじめ各種さまざまな実機を展示します。
製品技術説明会では、「粒子径およびゼータ電位測定による機能性粉体粒子の分散評価」というテーマで講演をおこないます。
各種技術資料も取り揃えて皆様のご来場をお待ちしております。ぜひ弊社ブースにお立ち寄りください。
| ●名 称 | 粉体工業展東京2010 （POWTEX TOKYO 2010） |
| ●会 期 | 2010年12月1日（水）～3日（金） 10：00～17：00 |
| ●会 場 | 東京ビックサイト 東ホール |
| ●入場料 | 1,000円（ただし、招待券持参者・事前登録者・学生は無料） |
| ●主 催 | 社団法人 日本粉体工業技術協会 |
お客様のご来場時に確実にご対応できますように、アポイントメントシートをご用意させていただきました。
| ＜希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能＞ | ||||||||
● ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series 従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位・粒子径測定と平板・フィルム状試料の表面ゼータ電位測定が可能です。
粒子径測定範囲も（0.6nm～7000nm）、濃度範囲（0.001%～40%）に対応。 ｐＨタイトレータと組合せることでｐＨや添加剤濃度に対するゼータ電位変化を自動測定することができます。
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| ＜ナノ粒子の分散状態評価、濃厚溶液での粒子径計測が可能＞ | ||||
● 濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000 希薄系から濃厚系まで幅広い濃度領域での粒子径測定コロイド分散液やスラリーの分散状態の解析に最適です。
  FPARとオートサンプラーの組み合せで、50検体までの試料について粒子径の自動測定が可能です。 サンプル量が1mlで、安価なディスポセルを用いての測定が可能です。 |
| ＜遠赤外（テラヘルツ）領域の小型分光器＞ | ||||
● テラヘルツ分光システム TR-1000 series  高速・高分解能で時間領域分光測定が可能です。
固体、粉体、液体試料に対応しています。
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併催の製品技術説明会では以下の内容でセミナーを行います。
ぜひご聴講ください。
| ●テ ー マ | 粒子径およびゼータ電位測定による機能性粉体粒子の 分散評価 |
| ●対象製品 | ゼータ電位・粒径測定システム（ELSZ series） |
| ●日 時 | 2010年12月3日（金）14：45～15：15 |
| ●会 場 | 粉体工業展会場内 Aルーム（東3ホール） |
