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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
11月10日から幕張メッセで行われる「FPD International 2010」に出展
します。
大塚電子ブースでは、「全光束測定システム HM series（サンプル温調機能付きタイプ）」を展示します。
サンプル温調ユニット[オプション]により、全光束の自動温度可変測定が精度よくできます。
この他に量子効率測定装置、膜厚評価装置を実機展示するほか、部材評価に最適な装置をパネルにてご紹介します。
展示会にお越しの際は、ぜひ弊社ブースへもお立ち寄りください。
大塚電子ブースでは、「全光束測定システム HM series（サンプル温調機能付きタイプ）」を展示します。
サンプル温調ユニット[オプション]により、全光束の自動温度可変測定が精度よくできます。
この他に量子効率測定装置、膜厚評価装置を実機展示するほか、部材評価に最適な装置をパネルにてご紹介します。
展示会にお越しの際は、ぜひ弊社ブースへもお立ち寄りください。
| ●名 称 | FPD International 2010 |
| ●会 期 | 2010年11月10日（水）～12日（金） 10：00～17：00 |
| ●会 場 | 幕張メッセ ４～６ホール |
| ●入 場 料 | 2000円 |
| ●主 催 | 日経BP社 |
| ●同時開催 | Green Device 2010 |
| 【 光源評価 】 バックライトの評価も簡単により高精度に！ |
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● 全光束測定システム（HaflMoon） HM series 積分半球による光源評価のご提案です。積分球（全球）の弱点である「光源点灯治具の自己吸収」による誤差を解消、全光束評価が難しいバックライトなどの面発光光源も簡単に精度良く評価できるシステムを提供します。
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| 【 量子効率 】 超高感度・高精度・低迷光MCPD分光器を用いた量子効率測定 |
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● 量子効率測光システム QE-1000  蛍光スペクトルを積分球を使用して測定する装置です。分光器や干渉フィルタを用いることにより任意の励起波長を選択することが可能です。紫外域での迷光を抑えることにより、高い量子効率をもつサンプルの高精度な測定を可能とします。
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| 【 輝度評価 】 330nm～1100nmの高波長帯域に対応！ |
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● 高感度分光放射輝度計 HS series 0.005cd/m2の超低輝度から400,000cd/m2の高輝度まで高速・高精度測定が可能な分光放射輝度計です。PDの基本性能に重要なメガコントラスト、応答速度測定対応可能です。
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| 【 膜厚評価 】 小型・低価格！簡単操作で、"非接触"膜厚測定！ |
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● 膜厚モニター FE-300 薄膜から厚膜の幅広い膜厚測定に対応可能な光干渉式膜厚計です。 コンパクト・低価格でありながら高精度測定を実現します。
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