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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
本展示会では、さまざまな分野で利用される高機能性フィルムの光学特性評価装置について、新製品・新技術をご紹介します。
今回は、新製品「膜厚モニター FE-300」をご紹介します。高機能はそのままに省スペースと低価格を実現しました。コンパクトな外観、優れた操作性をぜひ弊社ブースにてご覧ください。
お客さまが求める製品の実現に向けて、弊社の光計測技術が多様なニーズにお応えします。ぜひ弊社ブース（F3-21）へお立ち寄りください。
今回は、新製品「膜厚モニター FE-300」をご紹介します。高機能はそのままに省スペースと低価格を実現しました。コンパクトな外観、優れた操作性をぜひ弊社ブースにてご覧ください。
お客さまが求める製品の実現に向けて、弊社の光計測技術が多様なニーズにお応えします。ぜひ弊社ブース（F3-21）へお立ち寄りください。
| ●名 称 | 第1回 高機能フィルム技術展 -フィルムテック･ジャパン- | |
| ●会 期 | 2010年4月14日（水）～16日（金） | |
| ●会 場 | 東京国際展示場（東京ビッグサイト） 東4ホール | |
| ●主 催 | リードエグジビション ジャパン株式会社 | |
| ●同時開催 | 第2回次世代照明技術展 -ライティング･ジャパン- 第20回 ファインテックジャパン -フラットパネルディスプレイ研究開発･製造技術展- |
■同時出展 ライティングジャパンにも出展 （ブース：L2-5）いたします。 |
| 【 膜厚評価 】 小型・低価格！簡単操作で、"非接触"膜厚測定！ |
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● 膜厚モニター FE-300 薄膜から厚膜の幅広い膜厚測定に対応可能な光干渉式膜厚計です。 コンパクト・低価格でありながら高精度測定を実現します。 安価でお求めやすい固定ステージ仕様と、マッピング測定が可能な自動ステージ仕様の２種類をラインナップしています。
*2 仕様により測定膜厚範囲および測定波長範囲は異なります |
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 弊社のコア技術である分光計測技術を最大限活用することで、製品品質の評価方法から製造ラインでの品質管理方法、さらに生産現場での用途や生産ライン状況に応じた最適な品質評価方法をご提案します。
（写真：トラバースタイプ）
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| 【 Re.評価 】 0.1秒以下の速さで低Re.と主軸方位角の同時測定を実現！ |
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● 高速インラインリタデーションモニター RE-100  偏光計測モジュールを用いた計測システムです。低リタデーションサンプルのリタデーションおよび主軸方位角を同時にかつ高速で測定できます。形状がコンパクトであり、高速測定が可能なことから、フィルムや光学材料のインライン測定に最適です。
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| 【 透過反射 】 紫外・可視・近赤外！広い波長域と用途に合わせた自由な光学系の構築 |
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● インライン分光透過・反射モニター 紫外から近赤外領域に対応した多機能マルチチャンネル分光器を用いたシステムです。最小16msでスペクトルの測定が可能です。標準装備のファイバーを用いてサンプル種を特定することなく、さまざまな測定系に対応することができます。
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