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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
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『LEDジャパン2010』は、LEDの製造にかかわる材料、設計、測定、製造技術とLEDの応用が一堂に会するイベントであり、10年前から毎年米国で開催されている高輝度LEDのカンファレンス・イベント『Strategies
in Light』の日本版イベントとして、カンファレンスと展示会の2本立てで2008年より開催されています。
大塚電子は、『LEDジャパン2010』にて、光源と器具が一体化した照明装置の全光束測定を、簡単な操作で実現する「全光束測定システム（ハーフムーン）HM series」を展示します。
この他にass="wn">光源の分光スペクトル、輝度・色度、色温度、演色性測定などが可能な装置をご紹介します。
弊社ブースへぜひお立ち寄りください。
大塚電子は、『LEDジャパン2010』にて、光源と器具が一体化した照明装置の全光束測定を、簡単な操作で実現する「全光束測定システム（ハーフムーン）HM series」を展示します。
この他にass="wn">光源の分光スペクトル、輝度・色度、色温度、演色性測定などが可能な装置をご紹介します。
弊社ブースへぜひお立ち寄りください。
| ●名 称 | LED ジャパン 2010 |
| ●会 期 | 2010年9月29日（水）～10月1日（金） |
| ●会 場 | パシフィコ横浜 |
| ●主 催 | 株式会社ICSコンベンションデザイン PennWell Corp. |
| ●同時開催 | BioOpto Japan 2010 InterOpto 2010 |
| 【 光源評価 】 バックライトなどの面発光光源評価も簡単により高精度に！ |
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● 全光束測定システム（ハーフムーン） HM series 積分半球による光源評価のご提案です。積分球（全球）の弱点である「光源点灯治具の自己吸収」による誤差を解消、全光束評価が難しいバックライトなどの面発光光源も簡単に精度良く評価できるシステムを提供します。
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| 【 量子効率評価 】 超高感度・高精度な低迷光マルチチャンネル分光光度計を用いた量子効率測定 |
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● 量子効率測光システム QE-1000  蛍光スペクトルを積分半球を使用して測定する装置です。分光器や干渉フィルタを用いることにより任意の励起波長を選択することが可能です。紫外域での迷光を抑えることにより、高い量子効率をもつサンプルの高精度な測定を可能とします。
また、再励起蛍光発光の除去により高い反射率サンプルの高精度な量子効率測定ができます。
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| 【LED評価】 LEDの光学特性をあらゆる角度からアプローチ！ |
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● LED光学特性測定システム LE series LEDの光学特性を総合的に評価するためのシステムです。検出器には、分光分布を瞬時に測定できる瞬間マルチ検出器を採用。全てのシステムで分光測光を実現します。CIE平均化LED光度は規格化された光学系、全光束は積分球、配光測定は２軸ゴニオメータを採用しています。
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| 【 輝度評価 】 超低輝度（0.005cd/m2）から高輝度（400,000cd/m2）！ |
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● 高感度分光放射輝度計 HS series 0.005cd/m2の超低輝度から400,000cd/m2の高輝度まで高速・高精度測定が可能な分光放射輝度計です。ランプなど照明光源の分光データ・輝度・色度・相関色温度測定に最適です。
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| 【 部材評価 】 進化したMCPD分光器！ MCPDシリーズ最上位機種登場！ |
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● 瞬間マルチ測光システム MCPD-9800 広いダイナミックレンジを有し、全光束測定に最適です。
低迷光機能搭載により、UV評価に最適。当社従来機種に比べて迷光率を約1/5に！
最短5msecから65sec*1までの露光時間、微弱光測定、高速測定、インライン測定など、幅広い測定に最適です。
スクランブルファイバーの採用により、高再現性を実現した軽量・コンパクトな縦置きタイプです。
*1 標準仕様では最長20sec
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