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大塚電子 ニュース
技術セミナー in 埼玉                                 無料
無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました

光を用いた各種分析装置を開発してきました大塚電子が、先端技術をサポートする各種分析装置と、その測定技術・応用例などについてセミナーを開催いたします。
実際の測定例などをパネル等でも紹介しております。
ぜひ、ご参加ください。

 

ナノテクノロジー関連技術セミナー
日 時 2010年10月20日(水) 12:30~16:00 (受付12:00~)
費 用 無料
会 場 川口総合文化センター・リリア 11階大会議室
  住所:埼玉県川口市川口3-1-1
お申込 お申込は終了させていただきました
担 当 正木・生田
  TEL(042)644-4951 / FAX(042)644-4961
ご紹介製品
遠赤外(テラヘルツ)領域の小型分光器
●テラヘルツ分光システム TR-1000
テラヘルツ分光器 TR-1000
高速・高分解能で時間領域分光測定が可能です。
固体、粉体、液体試料に対応しています。

希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能
●ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series
ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series
従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位・粒子径測定が可能な装置です。粒子径測定範囲も(0.6nm~7μm)、濃度範囲(0.001%~40%)に対応。装置も従来装置に比べコンパクトになり、取扱いが簡単な電気泳動セルにより操作性が向上しました。

小型・低価格!簡単操作で、"非接触"膜厚測定!
●膜厚モニター FE-300
膜厚モニター FE-300
薄膜から厚膜の幅広い膜厚測定に対応可能な光干渉式膜厚計です。
コンパクト・低価格でありながら高精度測定を実現します。
安価でお求めやすい固定ステージ仕様と、マッピング測定が可能な自動ステージ仕様の2種類をラインナップしています。
バックライトの評価も簡単により高精度に!
●全光束測定システム(ハーフムーン) HM series
全光束測定システム(積分半球仕様)HMseries
積分半球による光源評価のご提案です。積分球(全球)の弱点である「光源点灯治具の自己吸収」による誤差を解消、全光束評価が難しいバックライトなどの面発光光源も簡単にそして精度良く評価できるシステムを提供します。


技術セミナープログラム

 【受付開始】 (12:00~)
 【Seminar1】 (12:30~13:15)
 テラヘルツ分光とその応用
  ~ 材料・医薬品・食品分野を中心に ~

   ・テラヘルツ分光システム
TR-1000
 光の電波の両性質をもち、未開拓領域として注目されているテラヘルツ帯。
 テラヘルツ分光システムの基礎とアプリケーションをご紹介します。
 【Seminar2】 (13:15~14:00)
 コロイド粒子の分散評価方法について
  ~ 粒子径・ゼータ電位測定 ~

   ・ゼータ電位・粒径測定システム
   ・ファイバー光学動的光散乱光度計
   ・濃厚系粒径アナライザー
ELSZ シリーズ
FDLS-3000
FPAR-1000
 粒子径・ゼータ電位は、コロイドの分散・凝集メカニズムの解明に重要なパラメーターです。
 今回、それらの測定原理と全相互作用エネルギーについて説明します。
<コーヒーブレイク> (14:00~14:30)

 【Seminar3】 (14:30~15:15)
 非破壊・非接触の光学膜厚測定とその最新評価技術
   ・反射分光膜厚計
   ・分光エリプソメータ
FE-3 / FE-300 / FE-3000
FE-5000 / FE-5000S
幅広い膜厚範囲や多様な用途に対応した測定手法と、
R&Dで活用できる豊富な膜質解析アプリケーションをご紹介します。
 【Seminar4】 (15:15~16:00)
 光源と照明の最新評価技術について
   ・量子効率測定システム
   ・全光束測定システム
QEシリーズ
HMシリーズ
 LEDを中心に、蛍光体の量子効率評価やLED・冷陰極管などの全光束評価についてご紹介します。
 R&D用途から品質管理までトータル的にサポートしてきた大塚電子。
 その経験を活かした最新の評価技術についてご紹介をします。

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