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大塚電子 ニュース
PVJapan2009 太陽光発電に関する総合イベント
無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました

6月24日から幕張メッセで開催される「PV Japan 2009」に出展します。

大塚電子では、フレキシブル有機薄膜の特性評価(発光効率、分光スペクトル、有害紫外線量、輝度・色度、膜厚、偏光)装置を展示します。
特に今回は、新製品 広ダイナミックレンジ対応瞬間マルチ測光システム(MCPD-9800)をご紹介します。
MCPD seriesの最上位機種に位置し、軽量・コンパクト、広い測定範囲、低迷光機能、高速・高再現性を実現しました。高精度な紫外定量評価や量子効率測定など、高精度な測光システムに対応します。ぜひ弊社ブースにて進化したMCPD分光器をご覧ください。

大塚電子ブースでは、弊社の新技術を紹介するとともに、お客さまの「評価したいこと」の実現に向けて、技術相談を承ります。 大塚電子のユニークな発想、きめ細かな対応、確かな技術は、お客様が求める製品の実現に向け、長年蓄積した分光計測技術を駆使して、多様なニーズにお応えします。ぜひ弊社ブース(5A-604)にお立ち寄りください。
名   称 PVJapan2009 (太陽光発電に関する総合イベント)
会   期

2009年6月24日(水)~26日(金)10:00 ~ 17:00 

会   場 幕張メッセ 4-6ホール
主   催 SEMIジャパン
太陽光発電協会(JPEA)
同時開催 第4回新エネルギー世界展示会
第5回太陽光発電研究センター成果報告会
出展ブース「P-346」東5ホール

出展ブース「P-346」東5ホール
出展製品
【 部材評価 】
  進化したMCPD分光器! MCPDシリーズ最上位機種登場!
瞬間マルチ測光システム MCPD-9800
瞬間マルチ測光システム MCPD-9800
従来のMCPD分光器に比べ、軽量・コンパクト、広い測定範囲、高速・高再現性を実現しました。また低迷光機能の搭載により、高精度な紫外定量評価や量子効率測定を可能にします。

検出器 電子冷却型CCDイメージセンサ 512ch / 1024ch
測定波長範囲 360nm~830nm、360nm~1100nm、240nm~800nm
測定項目 透過・吸収スペクトル測定、蛍光スペクトル測定
【 膜厚評価装置 】
  省スペース・高機能エリプソメータを低価格にてご提供
● 卓上型分光エリプソメータ FE-5000S
【膜厚評価装置】コンパクト・高機能エリプソメータを低価格で提供! -卓上型分光エリプソメータ FE-5000S
高精度な膜厚解析・光学定数解析が可能な卓上型分光エリプソメータです。自動角度可変測定、全角度同時解析など高機能仕様の分光エリプソメータを低価格・省スペースにて実現しました。薄膜材料における多層薄膜の膜厚解析が可能であり、膜厚管理・膜質管理に有用な情報を提供することが可能です。

測定膜厚範囲 0.1nm ~ 1μm
測定波長範囲 300nm ~ 800nm
検出器 ポリクロメータ (PDA、CCD)
測定項目 エリプソパラメータ(cosΔ,tanψ)
光学定数解析(k:消衰係数、n:屈折率)、膜厚解析
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