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大塚電子 ニュース
第19回 ファインテックジャパン(フラットパネルディスプレイ研究開発・製造技術展)
無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました

4月15日から東京ビックサイトで開催される「第19回 ファインテックジャパン」に出展します。
大塚電子では、新製品 広ダイナミックレンジ対応瞬間マルチ測光システム(MCPD-9800)をご紹介します。
MCPD seriesの最上位機種に位置し、軽量・コンパクト、広い測定範囲、低迷光機能、高速・高再現性を実現しました。あらゆる高精度測光システムに対応します。ぜひブースにて進化したMCPD分光器をご覧ください。

大塚電子ブースでは、弊社の新技術を紹介するとともに、お客さまの「評価したいこと」の実現に向けて、技術相談を承ります。 大塚電子のユニークな発想、きめ細かな対応、確かな技術は、お客様が求める製品の実現に向け、長年蓄積した分光計測技術を駆使して、多様なニーズにお応えします。
ぜひ弊社ブース(30-30)にお立ち寄りください。

第14回アドバンストオブザイヤー ADY2009<検査・リペア・測定部門>にて、『動画解像度評価装置 MR-2000』が優秀賞を受賞しました。

■同時出展
同時出展「次世代照明技術展 ライティング・ジャパン」
ライティングジャパンにも出展
(ブース:8-4)いたします。

名   称 第19回 ファインテックジャパン
(フラットパネルディスプレイ研究開発・製造技術展)
日   時 2009年4月15日(水)~17日(金)10:00 ~ 18:00  (最終日は17:00終了)
会   場 東京国際展示場(東京ビッグサイト) 東4ホール
主   催 リードエグジビション ジャパン株式会社
同時開催 第1回次世代照明 技術展 ライティング・ジャパン
第4回 FPD 部品・材料 EXPO
Display2009 第5回 国際 フラットパネルディスプレイ展
第1回 国際タッチパネル技術展
出展ブース「30-30」東4ホール

出展ブース「30-30」東4ホール ライティングジャパン大塚電子ブース「8-4」

出展製品
【 動画解像度評価 】
  ディスプレイの動画解像度を定量的に評価!
● 動画解像度評価装置 MR-2000
動画解像度評価装置 MR-2000
(株)次世代PDP開発センター〔APDC〕が提唱する動画解像度測定方式に準拠した、ディスプレイの動画解像度を定量評価できる装置です。 第14回アドバンストオブザイヤー ADY2009<検査・リペア・測定部門>にて、『動画解像度評価装置 MR-2000』が優秀賞を受賞しました。
※ディスプレイの実用的な動画解像表示性能を、「人の見た
  目に近い尺度」で測定・評価するための方式
測定項目 動画解像度
【 光源評価 】
  バックライトの評価も簡単により高精度に!
● 全光束測定システム(ハーフムーン) HM series
全光束測定システム(HalfMoon) HM series
積分半球による光源評価のご提案です。積分球(全球)の弱点である「光源点灯治具の自己吸収」による誤差を解消、全光束評価が難しいバックライトなどの面発光光源も簡単に精度良く評価できるシステムを提供します。

特許取得済み
検出器 瞬間マルチ測光検出器(MCPD検出器)
測定項目 全光束、分光放射束スペクトル、色度座標、相関色温度、
演色性評価数など
【 部材評価 】
  進化したMCPD分光器! MCPDシリーズ最上位機種登場!
瞬間マルチ測光システム MCPD-9800
瞬間マルチ測光システム MCPD-9800
従来のMCPD分光器に比べ、軽量・コンパクト、広い測定範囲、高速・高再現性を実現しました。また低迷光機能の搭載により、高精度な紫外定量評価や量子効率測定を可能にします。

検出器 電子冷却型CCDイメージセンサ
測定波長範囲 360nm~830nm、360nm~1100nm
測定項目 透過・吸収スペクトル測定、蛍光スペクトル測定
【 輝度評価 】
  超低輝度(0.005cd/m2)から高輝度(400,000cd/m2)!
● 高感度分光放射輝度計 HS series
高感度分光放射輝度計 HS-1000
0.005cd/m2の超低輝度から400,000cd/m2の高輝度まで高速・高精度測定が可能な分光放射輝度計です。ランプなど照明光源の分光データ、輝度、色度、相関色温度測定に最適です。

波長範囲 355 nm ~ 835 nm
精度範囲 0.005 cd/m2 ~ 400,000 cd/m2
検出器 分光方式
測定項目 放射輝度(W/Sr/m2)、輝度(cd/m2)、色度座標(xy、u'v')、
三刺激値(XYZ)、相関色温度、偏差など
【 リタデーション評価 】
  0.1秒以下の速さで低リタデーションと主軸方位角の同時測定を実現!
●高速リタデーション測定装置 RE-100
高速リタデーション測定装置 RE-100
偏光計測モジュールを用いた計測システムです。低リタデーションサンプルのリタデーションおよび主軸方位角を同時にかつ高速で測定できます。形状がコンパクトであり、高速測定が可能なことから、フィルムや光学材料のインライン測定に最適です。

検出波長 550 nm(他選択可能)
検出器 偏光計測モジュール
測定項目 リタデーション測定(測定範囲:0nm~1μm)
主軸方位角度、楕円率・方位角、三次元屈折率など
【 膜厚評価 】
  多層膜の膜厚・膜質評価を高速・高精度で実現!
● 反射分光膜厚計 FE-3000
【膜厚評価装置】薄幕から圧膜まで高精度に測定 -反射分光膜厚計 FE-3000
マルチチャンネル検出器による高速性と、顕微光学系による多機能を付加した光干渉式膜厚測定システムです。紫外可視域から近赤外域までの顕微反射スペクトルにより、多層薄膜から厚膜まで幅広いレンジの膜厚測定を高速・高精度で実現します。半導体材料、FPD材料、光記憶材料、新機能性材料など、多様化する各種膜厚、膜質解析にお応えします。

測定膜厚範囲 1nm ~ 1mm
測定波長範囲 190nm ~ 1600nm
検出器 PDA、CCD、InGaAs
測定項目 多層膜厚解析、膜物性解析(k:消衰係数、n:屈折率)、
絶対反射率測定

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