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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
2月18日から東京ビックサイトで開催される「Convertech JAPAN 2009（コンバーティング・テクノロジー総合展）」に出展します。
弊社ブースでは、さまざまな分野で利用される高機能性フィルムの光学特性評価装置を展示・紹介いたします。
弊社の技術が、お客様の「評価したいこと」を実現します。
ぜひ弊社ブース（I-96）にお立ち寄りください。
また、併催の「nano tech 2009にも出展いたします。合わせてお立ち寄りください。
弊社ブースでは、さまざまな分野で利用される高機能性フィルムの光学特性評価装置を展示・紹介いたします。
弊社の技術が、お客様の「評価したいこと」を実現します。
ぜひ弊社ブース（I-96）にお立ち寄りください。
また、併催の「nano tech 2009にも出展いたします。合わせてお立ち寄りください。
| ●名 称 | Convertech JAPAN 2009 （コンバーティング・テクノロジー総合展） |
| ●日 時 | 2009年2月18日（水）～20日（金）10：00 ～ 17：00 |
| ●会 場 | 東京国際展示場（東京ビッグサイト） 東3ホール |
| ●主 催 | 株式会社 加工技術研究会 |
| ●併 催 | 新機能性材料展 2009 , nano tech 2009 , ナノバイオ Expo 2009 , ASTEC 2009 , METEC '09 , Printalbe Electronics 2009 |
  弊社のコア技術である分光計測技術を最大限活用することで、製品品質の評価方法から製造ラインでの品質管理方法、さらに生産現場での用途や生産ライン状況に応じた最適な品質評価方法をご提案します。
（写真：トラバースタイプ）
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| 【 Re.評価 】 0.1秒以下の速さで低Re.と主軸方位角の同時測定を実現！ |
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● 高速インラインリタデーションモニター RE-100  偏光計測モジュールを用いた計測システムです。低リタデーションサンプルのリタデーションおよび主軸方位角を同時にかつ高速で測定できます。形状がコンパクトであり、高速測定が可能なことから、フィルムや光学材料のインライン測定に最適です。
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【 透過反射 】 紫外・可視・近赤外！広い波長域と用途に合わせた自由な光学系の構築 |
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● インライン分光透過・反射モニター 紫外から近赤外領域に対応した多機能マルチチャンネル分光器を用いたシステムです。最小16msでスペクトルの測定が可能です。標準装備のファイバーを用いてサンプル種を特定することなく、さまざまな測定系に対応することができます。
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