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大塚電子 ニュース
JLEDSシンポジウム2009
無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました

10月6日にLED照明推進協議会(JLEDS)主催のシンポジウム「LED照明が創り出す新しいあかりの世界」が東京・砂防会館にて開催されます。
大塚電子は、このシンポジウムの「LED新商品・パネル展示コーナー」にて、LED評価機器の展示、弊社の最新技術を紹介します。
シンポジウムへお越しの際は、ぜひ弊社ブースにもお立ち寄りください。
名   称 JLEDSシンポジウム2009
会   期 2009年10月6日(火) 10:30~18:30
会   場 砂防会館 シェーンバッハ・サボー
申込方法 こちらよりお申込ください。
主   催 LED照明推進協議会
出展ブース「No.6」
出展ブース「No.6」
出展製品
【 光源評価 】
  バックライトなどの面発光光源評価も簡単により高精度に!
● 全光束測定システム(ハーフムーン) HM series
全光束測定システム(HalfMoon) HM series
積分半球による光源評価のご提案です。積分球(全球)の弱点である「光源点灯治具の自己吸収」による誤差を解消、全光束評価が難しいバックライトなどの面発光光源も簡単に精度良く評価できるシステムを提供します。

特許取得済み
検出器 瞬間マルチ測光検出器(MCPD検出器)
測定項目 全光束、分光放射束スペクトル、色度座標、相関色温度、
演色性評価数など

パネル展示
【 輝度評価 】
  330nm~1100nmの広波長帯域に対応!
● 高感度分光放射輝度計 HS series
高感度分光放射輝度計 HS-1000
0.005cd/m2の超低輝度から400,000cd/m2の高輝度まで高速・高精度測定が可能な分光放射輝度計です。ランプなど照明光源の分光データ・輝度・色度・相関色温度測定に最適です。

波長範囲 330 nm ~ 1100 nm
精度範囲 0.005 cd/m2 ~ 400,000 cd/m2
検出器 分光方式
測定項目 放射輝度(W/Sr/m2)、輝度(cd/m2)、色度座標(xy、u'v')、
三刺激値(XYZ)、相関色温度、偏差など

【 量子効率評価 】
  超高感度・高精度な低迷光マルチチャンネル分光光度計を用いた量子効率測定
● 量子効率測光システム QE-1000
【量子効率評価】量子効率測光システム QE-1000
蛍光スペクトルを積分半球を使用して測定する装置です。分光器や干渉フィルタを用いることにより任意の励起波長を選択することが可能です。紫外域での迷光を抑えることにより、高い量子効率をもつサンプルの高精度な測定を可能とします。
また、再励起蛍光発光の除去により高い反射率サンプルの高精度な量子効率測定ができます。

測定波長範囲 240nm ~ 800nm
励起波長範囲 250nm ~ 600nm
測定項目 蛍光スペクトル測定、量子効率測定



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