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大塚電子 ニュース
ナノテクノロジー関連技術セミナー in 仙台無料
無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました

光を用いた各種分析装置を開発してきた大塚電子が、先端技術をサポートする各種分析装置および測定技術・応用例などについての技術セミナーを開催いたします。
実際の測定例などをパネル等でご紹介しておりますので、ぜひご覧ください。

 

ナノテクノロジー関連技術セミナー
日 時 2009年8月6日(木) 13:00~17:00 (受付12:30~)
費 用 無料
会 場 せんだいメディアテーク
  住所:仙台市青葉区春日町2-1
   TEL:022-713-3171
   FAX:022-713-4482
お申込 お申込は終了させていただきました
担 当 嶺・高田
  TEL(042)644-4951 / FAX(042)644-4961
ご紹介製品
遠赤外(テラヘルツ)領域の小型分光器
●テラヘルツ分光器 TR-1000
テラヘルツ分光器 TR-1000
高速・高分解能で時間領域分光測定が可能です。
固体、粉体、液体試料に対応しています。

希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能
●ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series
ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series
従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位・粒子径測定が可能な装置です。粒子径測定範囲も(0.6nm~7μm)、濃度範囲(0.001%~40%)に対応。装置も従来装置に比べコンパクトになり、取扱いが簡単な電気泳動セルにより操作性が向上しました。

多層膜の膜厚・膜質評価を高速・高精度で実現!
●反射分光膜厚計 FE-3000
反射分光膜厚計 FE-3000
マルチチャンネル検出器による高速性と、顕微光学系による多機能を付加した光干渉式膜厚測定システムです。紫外可視域から近赤外域までの顕微反射スペクトルにより、多層薄膜から厚膜まで幅広いレンジの膜厚測定を高速・高精度で実現します。半導体材料、FPD材料、光記憶材料、新機能性材料など、多様化する各種膜厚、膜質解析にお応えします。

バックライトの評価も簡単により高精度に!
●全光束測定システム(ハーフムーン) HM series
全光束測定システム(積分半球仕様)HMseries
積分半球による光源評価のご提案です。積分球(全球)の弱点である「光源点灯治具の自己吸収」による誤差を解消、全光束評価が難しいバックライトなどの面発光光源も簡単に精度良く評価できるシステムを提供します。


技術セミナープログラム

 【受付開始】 (12:30~)
 【Seminar1】 (13:00~13:50)
 テラヘルツ分光のアプリを公開
  ~ 材料・医薬品・食品分野を中心に ~

   ・テラヘルツ分光器
TR-1000
 光の電波の間に、これまで利用が困難であった未開拓領域『テラヘルツ(THz)』が存在。
 THzの基礎、アプリケーションをご紹介します。
 【Seminar2】 (13:50~14:40)
 ゼータ電位・粒子径測定によるナノ粒子の分散安定性評価と固体表面評価
  ~ ナノマテリアルからバイオマテリアルまで ~

   ・ゼータ電位・粒径測定システム
   ・濃厚系粒径アナライザー
   ・ファイバー光学動的光散乱装置
ELSZ シリーズ
FPAR-1000
FDLS-3000
 ナノマテリアルやバイオマテリアルの計測・評価法として重要な、ゼータ電位・粒子径測定についてデータ解釈、考察の仕方
 から、その応用についてご紹介します。
 また、固体のゼータ電位測定を利用した固体表面評価法についてもご紹介します。
<コーヒーブレイク> (14:40~15:00)
 【Seminar3】 (15:00~15:50)
 有機薄膜、酸化膜の膜厚、機能性膜の膜質
   ・反射分光膜厚計
   ・卓上分光エリプソメータ
FE-3000
FE-5000S
 光干渉法の膜厚計で研究開発~生産ラインの管理まで対応できるメーカーとして評価の高い当シリーズの測定の原理
 から最新の測定例までご紹介いたします。また、最近開発されたSiウエハの厚さ測定についてもご紹介いたします。
 【Seminar4】 (15:50~16:40)
 光源と照明の最新評価技術について
   ・量子効率測定システム
   ・全光束測定システム
MCPDシリーズ
HMシリーズ
 LEDを中心に蛍光体からの量子効率評価や、LED・冷陰極管などの全光束評価について、R&D用途から品質管理など
 トータル的にサポートしてきた大塚電子ならではの経験を活かした最新の評価技術についてご紹介いたします。

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