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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
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大塚電子ブースでは、太陽電池の変換効率・長寿命化の評価が可能な透過率・反射率・膜厚の測定装置、製造環境を監視するガス分析装置を展示・紹介します。
弊社の技術が、お客様の「評価したいこと」を実現します。
ぜひ弊社ブース（P-346）にお立ち寄りください。
弊社の技術が、お客様の「評価したいこと」を実現します。
ぜひ弊社ブース（P-346）にお立ち寄りください。
| ●名 称 | PVJapan2008 （太陽光発電に関する総合イベント） |
| ●日 時 | 2008年7月30日（水）～8月1日（金）10:00 ～ 17:00 |
| ●会 場 | 東京国際展示場（東京ビッグサイト） 東展示会場4・5ホール |
| ●主 催 | SEMIジャパン 太陽光発電協会 |
| ●同時開催 | 第3回新エネルギー世界展示会 |
| 【 分光計測 】 顧客のニーズに合わせた最適な分光器およびシステムをご提供 |
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● 瞬間マルチ測光システム MCPD series  分光計測技術により、UV域から近赤外までの透過率、反射率、膜厚、ヘイズ値、シュミレータ用光源の発光エネルギー量の測定を高速・高精度に実現できます。
■MCPD検出器仕様
■システム例（反射測定）  |
| 【 FTIRガス分析 】 プロセス装置から排出されるPFCsガスの成分分析 |
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| ● 工業用ガス分析装置 IG-2000
太陽電池製造中に排出されるPFCs・HAPsガスを簡便に測定可能です。プロセスの最適化によるPFCsガスの削減、分解効率や除害効率の試算に最適です。
■C2F6ガスによるCVDクリーニングの最適化  |
