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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
10月28日（火）から31日（金）まで、幕張メッセ1～3ホールで「国際粉体工業展東京2008」が開催されます。テーマは、“この一粒…夢をかたちに粉の技術”です。大塚電子（株）も、ゼータ電位･粒径測定システム「ELSZ series」、濃厚系粒径アナライザー「FPAR-1000」、テラヘルツ分光器「TR-1000」を出展いたします（ブースは「3ホール B-4」）。また併催の製品技術説明会で「粒子径およびゼータ電位測定による粉体粒子の分散評価」の講演を行います。各種技術資料も取り揃えて皆様のご来場をお待ちしています。
| ●名 称 | 国際粉体工業展東京2008 （POWTEX TOKYO 2008） |
| ●日 時 | 2008年10月28日（火）～10月31日（金） 10:00～17:00 |
| ●会 場 | 幕張メッセ １・２・３ホール |
| ●入場料 | 1,000円（ただし、招待券持参者・事前登録者・学生は無料） |
| ●主 催 | 社団法人 日本粉体工業技術協会 |
| ●併 催 | 粉体工学会 秋期研究発表会 |
| ＜希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能＞ | ||||||||
●ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series 従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位・粒子径測定と平板・フィルム状試料の表面ゼータ電位測定が可能です。
粒子径測定範囲も（0.6nm～7000nm）、濃度範囲（0.001%～40%）に対応。 ｐＨタイトレータと組合せることでｐＨや添加剤濃度に対するゼータ電位変化を自動測定することができます。
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| ＜ナノ粒子の分散状態評価、濃厚溶液での粒子径計測が可能＞ | ||||
●濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000 希薄系から濃厚系まで幅広い濃度領域での粒子径測定コロイド分散液やスラリーの分散状態の解析に最適です。
  FPARとオートサンプラーの組み合せで、50検体までの試料について粒子径の自動測定が可能です。 サンプル量が1mlで、安価なディスポセルを用いての測定が可能です。 |
| ＜遠赤外（テラヘルツ）領域の小型分光器＞ | ||||
● テラヘルツ分光器  高速・高分解能で時間領域分光測定が可能です。
固体、粉体、液体試料に対応しています。
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併催の製品技術説明会では以下内容のセミナーも行います。
ぜひご聴講ください。
| ●テーマ | 粒子径およびゼータ電位測定による粉体粒子の分散評価 |
| ●対象製品 | ゼータ電位・粒径測定装置（ELSZ series） |
| ●日 時 | 2008年10月31日（金）14：00～14：30 |
| ●会 場 | 粉体工業展会場内 Aルーム |
