イベント　講習会情報－ナノテクノロジー関連技術セミナー in 千葉

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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました

光を用いた各種分析装置を開発してきた大塚電子が、ナノテクノロジーをサポートする各種分析装置および測定技術・応用例などについての技術セミナーを開催いたします。
また、製品展示コーナーを併設し、実際の装置でのデモ測定（粒子径測定）を実施いたします。
ぜひ、この機会に大塚電子の製品を直接ご覧ください。

●日　時	2008年7月15日（火）　13:00～16:30 （受付12：30～）
●費　用	無料
●会　場	千葉市民会館　３階特別会議室２　　住所：千葉市中央区要町1番1号　　TEL：043-224-2431（代）　　FAX：043-224-2439
●お申込	お申込は終了させていただきました
●担　当	田中・色川　 TEL(042)644-4951 FAX(042)644-4961

希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位･粒子径を一台で測定可能

●ゼータ電位・粒径測定システム　ELSZ series

従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位･粒子径測定が可能な装置です。粒子径測定範囲も（0.6nm～7μm）、濃度範囲（0.001%～40%）に対応。装置も従来装置に比べコンパクトになり、取扱いが簡単な電気泳動セルにより操作性が向上しました。

現場で簡単に測定可能な高精度プロセス用ガス連続モニター

●工業用ガス分析装置　IG シリーズ

プロセス現場でのガス成分分析が手軽にできる高感度プロセス用FTIRガス連続モニターです。
プロセス装置から排出されるPFCsガスの分解効率、排出量試算、およびプロセス最適化、除害装置の除害効率評価などに最適です。簡単なガスセル交換で幅広い濃度範囲の多種ガス成分分析に対応可能であり、半導体特殊ガスなどトレーサビリティのあるガスライブラリーによる定性・定量解析が高精度にできます。研究分野から品質管理、ライン管理まで対応できる装置です。

0.1秒以下の速さで低リタデーションと主軸方位角の同時測定を実現！

●リタデーション測定装置　RE-100

偏光計測モジュールを用いた計測システムです。低リタデーションサンプルのリタデーションおよび主軸方位角を同時にかつ高速で測定できます。形状がコンパクトであり、高速測定が可能なことから、フィルムや光学材料のインライン測定に最適です。

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　【受付開始】　（１２：３０～）

　展示機器の見学や、「FPAR-1000」を用いた濃厚系から希薄系のサンプルについての粒子径のデモ測定が可能です。

　【Seminar１】　（１３：００～１４：００）

　工業用ガス分析装置 IGシリーズの測定例について

　　　・工業用ガス分析装置

IGシリーズ

IGシリーズは、FTIRを採用した可搬型のガス濃度モニターです。今回は、半導体製造プロセス、燃料電池関連、プロセスガス製造プラントなど、さまざまな現場で実施した評価例をご紹介します。

　【Seminar２】（１４：００～１５：００）

　初心者にも分かるナノ微粒子の分散･安定性評価技術

　　　・ゼータ電位・粒径測定システム
　　　・濃厚系粒径アナライザー
　　　・ファイバー光学動的光散乱装置

ELSZ シリーズ
FPAR-1000
FDLS-3000

ナノマテリアルの計測・評価法として重要な、ゼータ電位･粒子径測定についてデータ解釈、考察の仕方から、その応用についてご紹介します。

＜コーヒーブレイク＞　（１５：００～１５：３０）

　【Seminar３】　（１５：３０～１６：３０）

　機能性フィルムの位相差測定、Rth測定

　　　・リタデーション測定装置

RE-100、RETS-100

要求精度が高まりつつある機能性フィルムの位相差（Re）とRth測定にスポットを当て、低リタデーション（0nm～）からの測定を可能にした新たな回転検光子法と、フォトニック結晶を用いた1測定0.1秒～の低リタデーション測定装置の2種類をご紹介いたします。

ＯＰＥＮ　（１２：３０～１６：３０）

併設の展示コーナーでは、製品展示・パネル展示にて各製品をご紹介します。ご不明な点などはお気軽に声をお掛けください。
また、当日製品展示予定の「オートサンプラー付き濃厚系粒径アナライザー（FPAR-1000+FP3000）」につきましては、試料をお持ち頂ければその場でデモ測定を実施いたします。（水系以外の試料では、溶媒の屈折率と粘度が必要です。サンプル量は1mL以上ご準備ください。）

＜製品展示＞
　　● ゼータ電位･粒径測定システム
　　　　　ELSZ series
　　● オートサンプラー付き濃厚系粒径アナライザー
　　　　　FPAR-1000 + FP-3000
　　● 全光束測定システム
　　　　　HM-3030

＜パネル展示＞
　　● ファイバー光学動的光散乱光度計
　　　　　FDLS-3000
　　● ダイナミックス光散乱光度計
　　　　　 DLS-8000
　　● 反射分光膜厚計
　　　　　FE-3000
　　● 分光エリプソメータ
　　　　　FE-5000
　　● リタデーション測定装置
　　　　　 RE-100
　　● 低リタデーション測定装置
　　　　　 RETS-100
　　● 工業用ガス分析装置
　　　　　 IG シリーズ

お申込は終了させていただきました

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