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大塚電子 ニュース
ナノテクノロジー関連技術セミナー in 仙台無料
無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
光を用いた各種分析装置を開発してきた大塚電子が、ナノテクノロジーをサポートする各種分析装置および測定技術・応用例などについての技術セミナーを開催いたします。
また、製品展示コーナーを併設し、実際の装置でのデモ測定(全光束測定)を実施いたします。
ぜひ 、この機会に大塚電子の製品を直接ご覧ください。

 

ナノテクノロジー関連技術セミナー in 千葉
日 時 2008年7月17日(木) 13:00~16:40 (受付12:30~)
費 用 無料
会 場 仙台市民会館
  1階 第二会議室
  住所:仙台市青葉区桜ヶ岡公園4番1号
   TEL:022-262-4721
   FAX:022-215-3950
お申込 お申込は終了させていただきました
担 当 嶺・高田
  TEL(042)644-4951 FAX(042)644-4961
ご紹介製品
希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能
●ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series
ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series
従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位・粒子径測定が可能な装置です。粒子径測定範囲も(0.6nm~7μm)、濃度範囲(0.001%~40%)に対応。装置も従来装置に比べコンパクトになり、取扱いが簡単な電気泳動セルにより操作性が向上しました。

現場で簡単に測定可能な高精度プロセス用ガス連続モニター
●工業用ガス分析装置 IG シリーズ
工業用ガス分析装置 IG シリーズ
プロセス現場でのガス成分分析が手軽にできる高感度プロセス用FTIRガス連続モニターです。
プロセス装置から排出されるPFCsガスの分解効率、排出量試算、およびプロセス最適化、除害装置の除害効率評価などに最適です。簡単なガスセル交換で幅広い濃度範囲の多種ガス成分分析に対応可能であり、半導体特殊ガスなどトレーサビリティのあるガスライブラリーによる定性・定量解析が高精度にできます。研究分野から品質管理、ライン管理まで対応できる装置です。
多層膜の膜厚・膜質評価を高速・高精度で実現!
●反射分光膜厚計 FE-3000
反射分光膜厚計 FE-3000
マルチチャンネル検出器による高速性と、顕微光学系による多機能を付加した光干渉式膜厚測定システムです。紫外可視域から近赤外域までの顕微反射スペクトルにより、多層薄膜から厚膜まで幅広いレンジの膜厚測定を高速・高精度で実現します。半導体材料、FPD材料、光記憶材料、新機能性材料など、多様化する各種膜厚、膜質解析にお応えします。

バックライトの評価も簡単により高精度に!
●全光束測定システム(積分半球仕様) HM-3030
リタデーション測定装置 RE-100
積分半球による光源評価のご提案です。積分球(全球)の弱点である「光源点灯治具の自己吸収」による誤差を解消、全光束評価が難しいバックライトなどの面発光光源も簡単に精度良く評価できるシステムを提供します。


技術セミナープログラム

 【受付開始】 (12:30~)
 【Seminar1】 (13:00~13:50)
 工業用ガス分析装置 IGシリーズの測定例について
   ・工業用ガス分析装置
IGシリーズ
IGシリーズは、FTIRを採用した可搬型のガス濃度モニターです。今回は、半導体製造プロセス、燃料電池関連、プロセスガス製造プラントなど、さまざまな現場で実施した評価例をご紹介します。
 【Seminar2】 (13:50~14:40)
 初心者にも分かるナノ微粒子の分散・安定性評価技術
   ・ゼータ電位・粒径測定システム
   ・ファイバー光学動的光散乱装置
ELSZ シリーズ
FDLS-3000
ナノマテリアルの計測・評価法として重要な、ゼータ電位・粒子径測定についてデータ解釈、考察の仕方から、その応用についてご紹介します。
<コーヒーブレイク> (14:40~15:00)

 【Seminar3】 (15:00~15:50)
 膜厚測定、膜質解析の原理と最新測定技術について
   ・卓上分光エリプソメータ
   ・反射分光膜厚計
FE-5000S
FE-3000
光干渉法の膜厚計で研究開発~生産ラインの管理まで対応できるメーカーとして評価の高い当シリーズの測定の原理から最新の測定例までご紹介します。また、最近開発されたSiウェハの厚さ測定についてもご紹介いたします。
 【Seminar4】 (15:50~16:40)
 光源と照明の最新評価技術について
   ・量子効率測定システム
   ・全光束測定システム
MCPDシリーズ
HMシリーズ
LEDを中心に蛍光体からの量子効率評価や、LED・冷陰極管などの全光束評価について、R&D用途から品質管理などトータル的にサポートしてきた大塚電子ならではの経験を活かした最新の評価技術についてご紹介をいたします。
機器展示および技術相談コーナー
OPEN (12:30~16:40)
併設の展示コーナーでは、製品展示・パネル展示にて各製品をご紹介します。ご不明な点などはお気軽に声をお掛けください。
また、当日製品展示予定の「全光束測定システム HM-3030」につきましては、デモ用サンプルを用いて実際の測定をご覧いただけます。

<製品展示>
  ● ゼータ電位・粒径測定システム
     ELSZ series
  ● 全光束測定システム
     HM-3030

その他装置のパネル展示も行います。

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