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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
2月21日（水）から23日（金）まで、東京ビッグサイトでnano tech 2007国際ナノテクノロジー総合展・技術会議がおこなわれます。大塚電子（株）も出展し（ブースNo.D-19）、ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series、ファイバー光学動的光散乱光度計 FDLS-3000、濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000、オートサンプラー（FPAR用） FP-3000を展示いたします。各種技術資料も取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。
| ●名 称 | nano tech 2007 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議 |
| ●日 時 | 2007年2月21日（水）～23日（金） 10:00～17:00 |
| ●会 場 | |
| ●入場料 | 3,000円 （事前登録された方は、無料で入場して頂けます。） 事前登録を希望される方は nano tech 2007 ホームページ内の 「nano tech online 登録」からお申し込みください。 |
| ●主 催 | nano tech 実行委員会 |
| ＜希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒径を一台で測定可能＞ | ||||||||
●ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series 従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位･粒径測定が可能です。
粒径測定範囲も（0.6nm～7μm）、濃度範囲（0.001%～40%）に対応。装置も従来装置に比べコンパクトになり、取扱いが簡単な電気泳動セルにより操作性が向上しました。
  ELSZシリーズとの組み合せにより、pHに対するゼータ電位変化を連続測定することが可能になります。 |
| ＜ナノ粒子の分散状態評価、濃厚溶液での粒子径計測が可能＞ | ||||
●濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000 希薄系から濃厚系まで幅広い濃度領域での粒径測定コロイド分散液やスラリーの分散状態の解析に最適です。
 FPARとオートサンプラーの組み合せで、50検体までの試料について粒径の自動測定が可能です。 サンプル量が1mlで、安価なディスポセルを用いての測定が可能です。 |
| ＜ナノ粒子を高精度かつ容易に測定が可能、高温･高圧セルなど特殊セルにも対応＞ | ||
●ファイバー光学動的光散乱光度計 FDLS-3000 固体レーザーと高感度検出器により、ナノ粒子 0.5nm ～ 5μmのサブミクロン粒子を精度よく測定することが出来ます。
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