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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
4月11日から東京ビックサイトで開催される「FINETECH JAPAN」に出展します。
弊社ブースでは、R&DからQC（品質管理）、インラインまであらゆる工程で利用可能な検査装置を展示・ご紹介します。
大塚電子のユニークな発想、きめ細かな対応、確かな技術は、お客様が求める製品の実現に向け、弊社が持つ長年蓄積した分光計測技術を駆使して、多様なニーズにお応えします。ご要望によって特注対応により、インラインへの計測器の組み込みはもとより、多彩なサンプル・用途に応じたシステムもご提案します。
ぜひ弊社ブース（11-4）にお立ち寄りください。
弊社ブースでは、R&DからQC（品質管理）、インラインまであらゆる工程で利用可能な検査装置を展示・ご紹介します。
大塚電子のユニークな発想、きめ細かな対応、確かな技術は、お客様が求める製品の実現に向け、弊社が持つ長年蓄積した分光計測技術を駆使して、多様なニーズにお応えします。ご要望によって特注対応により、インラインへの計測器の組み込みはもとより、多彩なサンプル・用途に応じたシステムもご提案します。
ぜひ弊社ブース（11-4）にお立ち寄りください。
| ●名 称 | （第17回 フラットパネルディスプレイ研究開発・製造技術展） |
| ●日 時 | 2007年4月11日（水）～13日（金）10:00 ～ 18:00 （最終日は17：00終了） |
| ●会 場 | 東京国際展示場（東京ビッグサイト） 東ホール |
| ●主 催 | リードエグジビション ジャパン株式会社 |
| ●同時開催 | 第2回 FPD 部品・材料 EXPO 第3回 国際 フラットパネルディスプレイ展 |
| 品質情報をリアルタイムで提供！ ～ インライン計測システムのご提案 ～ | ||||||||
● ラインモニター MCPD series 弊社のコア技術である分光計測技術を最大限活用することで、サンプルの評価方法からラインへの設置方法まで、ユーザー各々の用途やライン形状に応じた最適なシステムをご提案します。
（写真：トラバースタイプ）
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| フィルムや光学材料のインライン測定に最適！ | ||||||||
● インライン用リタデーション測定システム RE-100
 フォトニック結晶偏光子アレイCCDモジュールを用いた計測システムです。低リタデーションサンプルのリタデーション及び主軸方位を同時にかつ高速で測定できます。 形状がコンパクトであり、高速測定が可能なことから、フィルムや光学材料のインライン測定に最適です。
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| 【膜厚評価】 コンパクト・高機能エリプソメータを低価格で提供！ |
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● 卓上型分光エリプソメータ FE-5000S 自動角度可変測定、全角度同時解析などを搭載した高機能仕様分光エリプソメータを低価格・コンパクトサイズにて実現しました。膜厚管理・膜質管理に有用な情報を提供します。
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| 【膜厚評価】 薄膜から厚膜まで高精度に測定 |
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● 反射分光膜厚計 FE-3000
 マルチチャンネル検出器による高速性と、顕微光学系による多機能を付加した光干渉式膜厚測定システムです。紫外可視域から近赤外域までの顕微反射スペクトルにより、多層薄膜から厚膜まで幅広いレンジの膜厚測定を高速・高精度で実現します。半導体材料、FPD材料、光記憶材料、新機能性材料など、多様化する各種膜厚、膜質解析にお応えします。
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【ディスプレイ評価】 カラー画面の動画質評価も対応可能な新製品！ |
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●動画特性評価装置 MPRT-2000 カラーCCDカメラを搭載した新型タイプをリリース。眼球追従型CCDカメラによって得られたカラー画像を処理することにより、擬似輪郭、色割れなどの動画特性評価も精度よく数値化できるようになりました。LCDをはじめ、FPD全般の動画質評価に利用できます。
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| 【ディスプレイ評価】 LEDの光学特性をあらゆる角度からアプローチ！ |
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●LED光学特性測定システム LE series LEDの光学特性を総合的に評価するためのシステムです。検出器には、分光分布を瞬時に測定できる瞬間マルチ検出器を採用。全てのシステムで分光測光を実現します。CIE平均化LED光度は規格化された光学系、全光束は積分球、配光測定は２軸ゴニオメータを採用しています。
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| 展示会場内特設会場にて開催されます最新製品・技術情報のプレゼンテーションステージで、下記講演を行います。 | |
●テーマ |
大塚電子のインライン分光計測システム |
| ●日 時 | 2007年4月11日（水） 12:20～13:20 |
| ●会 場 | 展示会場内特設会場 |
