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大塚電子 ニュース
第8回コンバーティング機材・特殊印刷展(CMM JAPAN & JSP 2007)
無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました

4月25日から東京ビックサイトで開催される「CMM Japan 2007」に出展します。
近年、FPD分野、エレクトロニクス分野、包装分野などで高品質な機能性薄膜が求められています。
弊社ブースでは、さまざま分野で活躍する膜・フィルムの光学的特性を評価する装置を展示・ご紹介します。ぜひ弊社ブース(3-308)にお立ち寄りください。
また、最新製品・技術情報のプレゼンテーションステージでは、分光のしくみと分光計測器の紹介及びインライン分光計測への応用について講演いたします。 こちらにもぜひご参加ください。
名   称

第8回コンバーティング機材・特殊印刷展
(CMM JAPAN & JSP 2007)

日   時

2007年4月25日(水)~28日(土)10:00 ~ 17:00  (最終日は16:00閉会)

会   場 東京国際展示場(東京ビッグサイト) 東1・2・3ホール
主   催 株式会社 加工技術研究会
同時開催 新機能性材料展2007
出展ブース「3-308」東3ホール


出展製品
 サンプルの評価方法からラインへの設置方法まで、最適なシステムをご提案!
●ラインモニター MCPD series
ラインモニター MCPD series(トラバースタイプ)
弊社のコア技術である分光計測技術を最大限活用することで、サンプルの評価方法からラインへの設置方法まで、ユーザー各々の用途やライン形状に応じた最適なシステムをご提案します。
(写真:トラバースタイプ)

光学系 透過系、反射系
システム 単体タイプ、トラバースタイプ、ファイバー切替タイプ
測定項目 透過率、反射率、膜厚、リタデーション、色度など
測定対象 AR(反射防止)フィルム、LR(低反射)フィルム、
偏光フィルム、位相差フィルム、包装用フィルム、
ガラス基板上塗布膜など
 フィルムや光学材料のインライン測定に最適!
● インライン用リタデーション測定システム RE-100
インライン用リタデーション測定システム RE-100
フォトニック結晶偏光子アレイCCDモジュールを用いた計測システムです。低リタデーションサンプルのリタデーション及び主軸方位を同時にかつ高速で測定できます。
コンパクト設計で、高速・高性能測定が可能なことから、フィルムや光学材料のインライン測定に最適です。

検出波長 655nm
測定項目 リタデーション測定(測定範囲:0nm~)
主軸方位角度、透過軸角度など
測定対象 位相差フィルム、偏光板など

SPACE WEB
展示会場内特設会場にて開催されます最新製品・技術情報のプレゼンテーションステージで、下記講演を行います。

テーマ

大塚電子のインライン分光計測システム
  - 歩留まりを向上するために
日 時 2007年4月26日(木) 12:30~13:00
会 場 SPACE WEB(展示会場内特設会場)
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