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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
4月25日から東京ビックサイトで開催される「CMM Japan 2007」に出展します。
近年、FPD分野、エレクトロニクス分野、包装分野などで高品質な機能性薄膜が求められています。
弊社ブースでは、さまざま分野で活躍する膜・フィルムの光学的特性を評価する装置を展示・ご紹介します。ぜひ弊社ブース（3-308）にお立ち寄りください。
また、最新製品・技術情報のプレゼンテーションステージでは、分光のしくみと分光計測器の紹介及びインライン分光計測への応用について講演いたします。 こちらにもぜひご参加ください。
近年、FPD分野、エレクトロニクス分野、包装分野などで高品質な機能性薄膜が求められています。
弊社ブースでは、さまざま分野で活躍する膜・フィルムの光学的特性を評価する装置を展示・ご紹介します。ぜひ弊社ブース（3-308）にお立ち寄りください。
また、最新製品・技術情報のプレゼンテーションステージでは、分光のしくみと分光計測器の紹介及びインライン分光計測への応用について講演いたします。 こちらにもぜひご参加ください。
| ●名 称 |
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| ●日 時 | 2007年4月25日（水）～28日（土）10:00 ～ 17:00 （最終日は16：00閉会） |
| ●会 場 | |
| ●主 催 | |
| ●同時開催 |
| サンプルの評価方法からラインへの設置方法まで、最適なシステムをご提案！ | ||||||||
●ラインモニター MCPD series 弊社のコア技術である分光計測技術を最大限活用することで、サンプルの評価方法からラインへの設置方法まで、ユーザー各々の用途やライン形状に応じた最適なシステムをご提案します。
（写真：トラバースタイプ）
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| フィルムや光学材料のインライン測定に最適！ | ||||||
● インライン用リタデーション測定システム RE-100  フォトニック結晶偏光子アレイCCDモジュールを用いた計測システムです。低リタデーションサンプルのリタデーション及び主軸方位を同時にかつ高速で測定できます。 コンパクト設計で、高速・高性能測定が可能なことから、フィルムや光学材料のインライン測定に最適です。
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