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大塚電子 ニュース
2007分析展(JAIMA SHOW 2007)
無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました

本展示会は、(社)日本分析機器工業会の主催で、我が国最大規模の分析機器の展示会です。本年のテーマは、「分析が拓く技術の扉」です。大塚電子(株)も出展し(ブースは「5-811」)、ゼータ電位・粒径測定システムELSZ series、濃厚系粒径アナライザーFPAR-1000、FPAR用オートサンプラーFP-3000、キャピラリー電気泳動装置CAPI-3300、工業用ガス分析装置IG-1000、テラヘルツ分光器(参考出品)を展示いたします。また製品技術説明会では工業用ガス分析装置、テラヘルツ分光器、ゼータ電位・粒径測定システムについてご説明いたします。各種技術資料も取り揃えて皆様のご来場をお待ちしています。
名 称 2007分析展(JAIMA SHOW 2007)
日 時 2007年8月29日(水)~8月31日(金) 10:00~17:00
会 場 幕張メッセ 4・5・6ホール
入場料 無料 
主 催 社団法人 日本分析機器工業会
出展ブース「5-811」
出展ブース図「5-811」
出展製品
<希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能>
●ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series
ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series
従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位・粒子径測定が可能です。
粒子径測定範囲も(0.6nm~7μm)、濃度範囲(0.001%~40%)に対応。装置も従来装置に比べコンパクトになり、取扱いが簡単な電気泳動セルにより操作性が向上しました。

ゼータ電位 -200 ~ 200mV
粒子径・粒度分布(Z-2仕様) 0.6nm ~ 7μm
対応濃度範囲 0.001% ~ 40% *1
電気移動度 -10×10-4 ~ 10×10-4 cm2/s・V
*1(Latex115/262nm: 0.001 ~ 10%、タウロコール酸: ~ 40%)
●ELSZ用pHタイトレーターシステム
ELSZ用pHタイトレーターシステム
ELSZシリーズとの組み合せにより、pHに対するゼータ電位変化を連続測定することが可能になります。
<ナノ粒子の分散状態評価、濃厚溶液での粒子径計測が可能>
●濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000
濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000
希薄系から濃厚系まで幅広い濃度領域での粒子径測定コロイド分散液やスラリーの分散状態の解析に最適です。

粒子径・粒度分布 1nm ~ 5μm(高感度仕様)
対応濃度範囲 0.001% ~ 10%
●オートサンプラー付濃厚系粒径アナライザー
オートサンプラー付濃厚系粒径アナライザー
FPARとオートサンプラーの組み合せで、50検体までの試料について粒子径の自動測定が可能です。
サンプル量が1mlで、安価なディスポセルを用いての測定が可能です。

<微量サンプル・低濃度・短時間・高分離能で分析可能>
●キャピラリー電気泳動装置 CAPI-3300
ファイバー光学動的光散乱光度計 FDLS-3000
前処理簡略化、陽イオン・陰イオンの連続自動測定など、HPLC・ICと比較して多くのメリットがあります。
<現場で簡単に測定可能な高精度プロセス用ガス連続モニター>
● 工業用ガス分析装置 IG-1000
工業用ガス分析装置 IG-1000 series
実際の現場で誰でも簡単にガス成分分析ができるプロセス用ガス連続モニターです。豊富なガスセルによりppbから%オーダーまで広い濃度範囲をカバーします。エッチング装置のプロセス評価、CVDチェンバー内のクリーニングプロセスの最適化、除害装置の性能評価などに最適な装置です。

測定波数範囲 600 cm-1~ 5000 cm-1
検出器 室温 DLaTGS、液体窒素冷却型 MCT、電子冷却型 InAs
測定項目 定性・定量解析、スペクトル解析
<遠赤外(テラヘルツ)領域の小型分光器>
テラヘルツ分光器 (参考出品)
テラヘルツ分光器
高速・高分解能で時間領域分光測定が可能です。
固体、粉体、液体試料に対応しています。

測定周波数域 0.04 ~ 7 THz  (1THz=1012Hz=0.3mm)

製品技術説明会
併催の製品技術説明会では以下内容のセミナーも行います。 ぜひご聴講ください。
テーマ 製造プラントの材料ガスの不純物監視モニター、
腐食性ガス中の微量水分量測定システムのご紹介
対象製品 工業用ガス分析装置 (IG-1000)
日 時 2007年8月29日(水) 14:30~14:55
会 場 アパホテル&リゾート A-5室
テーマ テラヘルツ分光器:光と電波をつなぐ新技術
対象製品 テラヘルツ分光器
日 時 2007年8月30日(木) 14:30~14:55
会 場 アパホテル&リゾート A-5室
テーマ 光散乱技術が導く濃厚懸濁液のゼータ電位・粒径測定
対象製品 ゼータ電位・粒径測定装置(ELSZ series)
日 時 2007年8月31日(金)13:45~14:35
会 場 アパホテル&リゾート A-8室
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