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| タイトル： |
分光計測概論２ |
| 講演要旨： |
大塚電子のコアコンピタンスのひとつである分光計測に関して、基礎から
応用まで全3回でセミナーを実施します。
第１回のセミナーでは、分光計測の原理から分光データを得るまでをお話ししました。
第2回では、分光データから得られる情報として、可視領域では色演算によって色彩
情報を数値化したり、異なる波長領域を使い膜厚解析によってnmオーダーの薄膜
から数十μmの厚膜までの厚みを解析する方法などについて解説します。
＊ 本セミナーは2022年5月に放映したものを配信いたします。 |
| 開催日時： |
2023年9月26日（火） 15：00～16：00 |
| 開催方法： |
Web （Microsoft Teams） |
| お申込み： |
お申し込みはこちらから |
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