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諦めていた膜厚測定を実現する 顕微分光膜厚計OPTM series

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  • 膜厚計(接触式・非接触式)をお使いの皆様こんな“困った”ありませんか??
  • 接触式 非接触式
  • そして
  • これまでの膜厚計のお悩み
  • 接触式/非接触式どちらでも測定が難しい素材がある
操作や解析に経験が必要
今までよりも高範囲・高精度な測定を求められるようになった
測定用途に合わせて様々な機器が必要になる

そんな膜厚計のお悩み1台で完全解決!大塚電子のOPTMシリーズ

1ポイント1秒測定 測定エリア最小3μm 高性能でとにかくつかいやすい 顕微分光膜厚計OPTM series

OPTMシリーズなら1台で全て解決できます!
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特長

ポイント1 もう素材を選ばない
幅広い測定膜種

薄膜・多層膜まで、材質を気にせず測定できる

OPTMシリーズは光干渉法を用いた分光計測なので、膜種を選ばない高精度な測定が可能です。これまでの膜厚計では不得意だった極薄膜・多層膜・カラーフィルタ・透明基板まで計測が可能です。また正確な絶対反射率を求めることができるので、材質のもつ光学定数(n:屈折率、k:消衰係数)の解析も可能になります。 

大塚電子のOPTMシリーズなら
ほぼ全ての膜厚計測が可能

むずかしかった
光学定数解析がもっと身近に

OPTMシリーズはこれまで経験が必要だった膜厚測定・光学定数解析を、
かんたんに測定ができる機能を搭載しました。

  • これまでの膜厚測定は・・・・。解析レシピ作成の手間が大変・・・。
  • OPTMシリーズなら!作業工数削減!難しい知識も不要!
解析ウィザード例 解析フィッティングでピークバレイの質問に答える対話形式
面倒な初期値設定はソフト側で自動的に判断

質問に答えて、結果を待つだけ!

解析完了
  • ピークの数は
    どれくらいですか?
  • ピークバレイは
    一致していますか?
  • 波形は
    フィットしていますか?

ポイント3 驚きの測定スピードと精度

■1ポイント1秒の測定スピード!

フォーカスの定量化(FV値の演算)を用いた
高速AF(オートフォーカス)により、
1ポイント1秒の高速測定を実現しました。
自動XYステージタイプのOPTM-A1シリーズなら、
面内25ポイントを1分以内で測定ができます。

■超高精度“繰り返し精度0.1nm”

色収差のないレンズ・光学系の採用により、
膜厚測定の繰り返し精度0.1nm、
反射率測定の繰り返し精度も0.4%~0.8%を実現しました。
(相対拡張不確かさ 2.1σ/Aveの最大値)

膜厚値・反射率の繰り返し精度データ

精度データ①

膜厚値測定の繰り返し精度(Si基板上SiO2膜)
100nm未満 0.1nm
100nm以上 0.07%

精度データ②

反射率測定の繰り返し精度
230nm〜250nm 0.8%
250nm〜800nm 0.4%
800nm〜1600nm 0.8%
大塚電子の最先端技術の採用により、誰でも簡単に測定ができ、測定者による誤差がほとんどない高再現性を実現しました。

ポイント4 その他の特長

  • 最大50層の多層膜に対応
  • 3μmの微小領域も
測定可能
  • 安全機構
エリアセンサー搭載
  • 様々な特許取得
ソフトウェアの搭載
  • 各種測定シーケンス
カスタマイズ可能な
マクロ機能

膜厚測定の常識を変える!この一台でほぼすべての膜種を計測 簡単・高速・高精度 顕微分光膜厚計OPTM series

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業界での活躍例

様々な業界で使える測定能力、その一例をご覧ください。

  • 機能性フィルム業界
    PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、
    PVAなど
  • 半導体業界
    Si、酸化膜、窒化膜、Resist、SiC、
    SOIなど
  • FPD業界
    LCD(CF、ITO、LC、PI、PS)、
    OLED(有機膜、封止剤)など
  • LED業界
    GaN、Sapphire、InP、InGaAs、
    リードフレーム
  • レンズ、フィルター業界
    ARコート、ハードコートなど
  • DLC業界
    ドリル、エンドミル、自動車用部品、光学材料、医療器具、
    プラスチック容器など

対象物に合わせて使いやすいオプション機能も搭載!

  • パターンアライメント機能
    パターン付きウェーハサンプルでのオートアライメント測定
    • ①二点間の座標から角度補正・
      中心座標を検出
    • ②各部位に移動後、座標がずれて
      いたら画像処理で補正
      (登録パターンより検出)
    • ③アライメント動作終了
  • 芯出し機能
    レンズ形状サンプルでの反射率測定
    レンズ形状をソフトウェアに 
    登録することで、レンズの芯の位置を自動的に装置で検出し、
    芯での絶対反射率測定が可能です。
  • 反り検出機能
    ウェーハガラスの反り検出測定
    オートフォーカスの高さ情報を
    記憶することで、膜厚測定と同時に
    反りの情報を検出することが
    可能です。

お客様の声

  • 測定スピードが速いため作業効率がアップした
    OPTMシリーズは、従来よりも測定スピードが格段に速くなり、
    これまで測定結果待ちで作業が止まっていた工程がなくなり
    作業効率・生産タクトが大幅にアップしました。
  • 部材ロスがなくなった
    これまでは、ワークに直接プロービングをしていたので、キズがついて廃棄することがありました。
    OPTMシリーズは非接触式なのでワークをムダにする事はないですし、
    静電気の帯電なども気にせず測定だけに集中できるので、作業効率が大幅にアップしました。
  • 品質アップ・不良品の発生が抑えられ
    業務改善につながった
    これまではワークの素材による精度のバラツキがでて、
    一定量の不良品が出ていましたが、OPTMシリーズ導入後は実製品に対して、
    成膜直後に膜厚測定ができるようになりました。
    また、繰り返し精度も素晴らしく、製品の品質も向上しました。
    そして、それに伴い不良品が減り、コスト削減にもつながりました。
  • 測定素材によって段取り替えをする手間がなくなった
    OPTMシリーズは、薄膜~多層膜まで1台で対応してくれるので、
    これまで測定結果待ちで作業が止まっていた工程がなくなり
    作業効率・生産タクトが大幅にアップしました。
  • 使いやすいソフトウェアが充実していて、
    対応人員が増え属人化が解消された
    OPTMシリーズは、膜種の素材に応じての解析アルゴリズムがプリセットされているので、
    だれでも簡単に初期設定ができます。
    また、これまでは専任の作業員が光学定数解析を行っていましたが、
    付属の楽々解析ウィザードを使えば専門知識がない社員でも対応できるようになりました。
    作業工数も削減できていい事づくめです。
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豊富なラインナップ

R&Dからインラインまで幅広く対応
膜厚に応じて3種類の波長範囲をご用意

設置タイプ

  • 自動XYステージタイプ
  • 固定フレームタイプ
  • 組み込みヘッドタイプ

ヘッドラインナップ

  • 波長範囲
    230nm〜800nm
    膜厚測定範囲
    1nm~35μm
  • 波長範囲
    360nm〜1100nm
    膜厚測定範囲
    7nm〜49μm
  • 波長範囲
    900nm〜1600nm
    膜厚測定範囲
    16nm~92μm

波長範囲のイメージ

非接触・非破壊・顕微でしかも、簡単・測定時間1秒! 顕微分光膜厚計OPTM series

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